[实用新型]10G带制冷半导体激光器性能测试系统有效

专利信息
申请号: 201620457928.7 申请日: 2016-05-19
公开(公告)号: CN205620110U 公开(公告)日: 2016-10-05
发明(设计)人: 张彩;宋鹏飞;崔晓磊;崔琳;张文臣;袁家勇 申请(专利权)人: 大连藏龙光电子科技有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 大连博晟专利代理事务所(特殊普通合伙) 21236 代理人: 于忠晶
地址: 116000 辽宁省*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 实用新型涉及光发射器性能测试系统领域,尤其是一种光通信用光发射器的性能测试系统。提出了10G带制冷半导体激光器性能测试系统,误码仪的信号发射端和接收端经高频线分别与测试盒的发射端和接收端相连接,误码仪的信号触发端和示波器的信号触发端连接,光模块置于测试盒上且与测试盒电连接,测试盒由双路直流稳压电源供电,待测激光器与光模块的发射端压触式电连接;待测激光器输出的光信号输入至光开关的输入通道,光开关的各个输出通道分别接光功率计、波长计、示波器等测试器件,测试待测激光器的各项性能指标。本实用新型测试系统结构简单,兼容性好,灵活方便,可且更贴近客户使用端性能测试,测试速度快,效率高,成本低。
搜索关键词: 10 制冷 半导体激光器 性能 测试 系统
【主权项】:
10G带制冷半导体激光器性能测试系统,包括光模块、待测激光器,误码仪、衰减器、示波器、双路直流稳压电源、光开关及光功率计,其特征在于:误码仪的信号发射端和接收端经高频线分别与测试盒的发射端和接收端相连接,误码仪的信号触发端和示波器的信号触发端连接,光模块置于测试盒上且与测试盒电连接,测试盒由双路直流稳压电源供电,待测激光器与光模块的发射端压触式电连接;待测激光器输出的光信号输入至光开关的输入通道,光开关的输出通道1接第一分路器,第一分路器的一路输出接光功率计的端口1,另一路输出接波长计;光开关的输出通道2接示波器;光开关的输出通道4接传输光纤,传输光纤或光开关的输出通道3与衰减器的输入端连接,衰减器的输出端接第二分路器的输入端,第二分路器的一路输出接光功率计的端口2,另一路输出接光模块的接收端。
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