[实用新型]一种抗PID的氮化硅减反射膜有效
申请号: | 201620219216.1 | 申请日: | 2016-03-21 |
公开(公告)号: | CN205488150U | 公开(公告)日: | 2016-08-17 |
发明(设计)人: | 段春艳;班群 | 申请(专利权)人: | 佛山职业技术学院 |
主分类号: | H01L31/0216 | 分类号: | H01L31/0216 |
代理公司: | 深圳市君胜知识产权代理事务所 44268 | 代理人: | 王永文;刘文求 |
地址: | 528137 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开一种抗PID的氮化硅减反射膜,所述氮化硅减反射膜包括沉积于硅片上的内、外两层氮化硅减反射膜,其中,内层氮化硅减反射膜的折射率为1.8~2.2,外层氮化硅减反射膜的折射率为2.0~2.5。在技术方面,本实用新型设计了双层结构的氮化硅减反射膜,使之具有抗PID作用。采用本实用新型双层氮化硅减反射膜设计的多晶硅太阳电池抗PID性能可达到IEC测试要求。具有抗PID性能的多晶硅太阳电池片产品的量产平均转换效率达到17.39%,成品率高、性能好。且将获得的多晶硅电池产品封装成72片标准组件后进行PID测试,组件功率下降了2.6%,符合产品要求。 | ||
搜索关键词: | 一种 pid 氮化 减反射膜 | ||
【主权项】:
一种抗PID的氮化硅减反射膜,其特征在于,所述氮化硅减反射膜包括沉积于硅片上的内、外两层氮化硅减反射膜,内层氮化硅减反射膜的折射率为1.8~2.2,外层氮化硅减反射膜的折射率为2.0~2.5。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的