[发明专利]通过分析多个物理不可克隆功能电路编码的可靠性降级的早期检测有效
| 申请号： | 201611271070.6 | 申请日： | 2016-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN106908710B | 公开（公告）日： | 2020-11-24 |
| 发明（设计）人： | S·辛迪阿;R·F·克瓦斯尼克;D·辛格 | 申请（专利权）人： | 英特尔公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 林金朝;王英 |
| 地址： | 美国加*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明描述了通过分析多个物理不可克隆功能电路编码的可靠性降级的早期检测。描述了一种装置，其包括多个电路，每个电路被设计为展示唯一签名编码，所述唯一签名编码根据与用于制造所述电路的制造工艺相关联的制造容差来确定。所述装置还包括错误电路，其用于基于来自所述多个电路的签名编码的改变来确定错误已经出现。 | ||
| 搜索关键词： | 通过 分析 物理 不可 克隆 功能 电路 编码 可靠性 降级 早期 检测 | ||
【主权项】：
一种装置，包括：多个电路，每个电路被设计为展示唯一签名编码，所述唯一签名编码根据与用于制造所述电路的制造工艺相关联的制造容差来确定；错误电路，用于基于来自所述多个电路的签名编码的改变来确定错误已经出现。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于英特尔公司，未经英特尔公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201611271070.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：电子经纬仪
- 下一篇：电子秤（CS101）
