[发明专利]一种基于集成电路功耗分析的故障诊断建库方法有效
申请号: | 201611248026.3 | 申请日: | 2016-12-29 |
公开(公告)号: | CN106844890B | 公开(公告)日: | 2020-07-28 |
发明(设计)人: | 王新胜;韩良;刘晓宁;王晨旭 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学(威海) |
主分类号: | G06F30/3308 | 分类号: | G06F30/3308;G06F30/3312;G06F30/327;G06F30/39;G06F119/06;G06F119/12 |
代理公司: | 威海科星专利事务所 37202 | 代理人: | 王元生 |
地址: | 264200*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于集成电路功耗分析的故障诊断建库方法,包括集成电路板,其特征在于集成电路板上的芯片内嵌有对集成电路进行功耗曲线建库分析步骤,其步骤包括:DC综合门级网表的功耗数据采集步骤,时序仿真故障门级网表的流程步骤和故障功耗故障采集步骤,本发明由于采用上述方法步骤,具有建库简单易行、延时时间短、硬件成本低等优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 集成电路 功耗 分析 故障诊断 方法 | ||
【主权项】:
一种基于集成电路功耗分析的故障诊断建库方法,包括集成电路板,其特征在于集成电路板上的芯片内嵌有对集成电路进行功耗曲线建库分析步骤,其步骤包括:1)DC综合门级网表的功耗数据采集步骤,2)时序仿真故障门级网表的流程步骤,3)故障功耗故障采集步骤,其中,所述DC综合门级网表的功耗数据采集步骤为:采用Design Compiler 进行门级综合,并通过写脚本的方式控制DC综合工具,制作时,首先设置隐藏文件.synopsys_dc_.setup,将综合过程中搜索路径、工艺库各个步骤需要用到的命令和参数按参数初始化、读库和读文件优化的顺序写在一个以tcl为后缀的文本文件中,并将编写的文本文件命名为run.tcl;再编写综合的时序约束条件,在约束的文本文件中创建时钟,并依次设置时钟的频率、输入输出延时、综合后的电路所需要面积、连线负载模型,大小,延迟,上述步骤完成后,再通过命令dc_shell–t –f ./run.tcl自动化完成整个综合的过程;最后通过area report查看电路所占用的面积,并通过timing report查看有无时序违反;所述时序仿真故障门级网表的流程步骤为:采用仿真器对DC综合门级网表进行SDF的标准延时文件反标,并生成所需要的故障VCD波形文件;所述故障功耗故障采集步骤为:采用PrimeTime PX中的Time‑based power analysis对动态功耗故障进行采集,采集时,首先设置PT的隐藏启动文件 .synopsys_pt.setup,脚本的启动文件内容同DC综合时类似完成参数初始化、读库和读文件;之后,再读取门级网表和故障VCD格式的波形文件,并对PrimeTime PX的时序参数进行设置,脚本文件运行完成后生成out格式的功耗文件,并通过该功耗文件采集动态功耗数据。
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