[发明专利]基于卷积神经网络剪枝算法的手机屏幕MURA缺陷检测方法有效
申请号: | 201611154333.5 | 申请日: | 2016-12-14 |
公开(公告)号: | CN106875373B | 公开(公告)日: | 2019-12-20 |
发明(设计)人: | 宋明黎;高鑫;沈红佳;邱画谋 | 申请(专利权)人: | 惠州旭鑫智能技术有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06N3/04;G06N3/08 |
代理公司: | 44245 广州市华学知识产权代理有限公司 | 代理人: | 蒋剑明 |
地址: | 516006 广东省惠州市仲恺高*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 基于卷积神经网络剪枝算法的手机屏幕MURA缺陷检测方法,包括:1)自定义深度卷积神经网络,利用已有的训练数据训练一个用来检测手机屏幕MURA缺陷的神经网络;2)利用自适应模板匹配的方法来进行卷积神经网络的剪枝操作,减小网络规模,缩短算法运行时间;3)将高分辨率相机拍摄的手机屏幕图片进行不同比例的缩放,形成图片金字塔,对于每个尺度的图片,利用滑窗的方法将图片分割成小块,将所有小块图片作为一个组一起送入卷积神经网络中;4)选取中间层的所有特征图作为缺陷的响应图,采用阈值分割的方法最终获得手机屏幕MURA缺陷区域位置。 | ||
搜索关键词: | 基于 卷积 神经网络 剪枝 算法 手机屏幕 mura 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】:
1.基于卷积神经网络剪枝算法的手机屏幕MURA缺陷检测方法,包括如下步骤:/n1)自定义卷积神经网络,通过训练数据训练该网络直到收敛;/n2)通过自适应模板匹配的方法来进行卷积神经网络的剪枝,缩小网络规模和网络参数;具体地,在第L个卷积层上的所有N个特征图,将第i个(i<N)特征图学到的响应位置对应回原图,该部分位置作为前景模板,原图的剩余位置作为背景模板,计算前景模板和背景模板的平均亮度差异Di;/n对所有的Di进行降序排序,取前K个(K<N)平均亮度差异Di最大的特征图之和作为响应图,剩余的特征图和其对应的卷积核直接被剪枝;/n3)采集手机屏幕图片数据,生成图片金字塔,分割成图片块,用于测试阶段数据生成,送入到步骤2)获得的剪枝后的卷积神经网络中进行运算;/n4)取中间隐层的特征图之和作为响应图,采用阈值分割的方法获得缺陷最终位置并圈出,该方法用于检测MURA缺陷。/n
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