[发明专利]嵌入式软件运行时间测试方法在审
| 申请号： | 201611128661.8 | 申请日： | 2016-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN106598855A | 公开（公告）日： | 2017-04-26 |
| 发明（设计）人： | 孟娟;林希佳;龚茜茜;刘国辉 | 申请（专利权）人： | 南京晨光集团有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心32203 | 代理人： | 唐代盛 |
| 地址： | 210006 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种嵌入式软件运行时间测试方法，将被测嵌入式软件代码的前后进行插桩，利用嵌入式芯片可测试的IO口，在被测代码的前端将IO口设置低电平，后端设置高电平，然后用示波器测试该IO口，示波器显示的低电平时间即为被测嵌入式软件代码的运行时间。本发明测试方法操作简便实用、准确度高，软件设计者可轻松测试到软件的运行时间和运行时序，以便及时调整设计方案；用途广泛，可应用于航空航天、智能装备等对实时性要求较高的嵌入式控制系统。 | ||
| 搜索关键词： | 嵌入式 软件 运行 时间 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种嵌入式软件运行时间测试方法，其特征在于步骤如下：(1)选择需要测试的嵌入式软件对应的硬件芯片可测试的IO口，并对IO进行相应的初始化配置；(2)在被测嵌入式软件可执行代码前端后端进行插桩，其中代码前端将IO口输出值配置为低电平，代码后端将IO口输出值配置为高电平；(3)将修改后代码进行编译，编译无误后重新写入嵌入式硬件芯片，上电运行后，利用示波器测试该IO口，其中低电平时间即为被测嵌入式软件代码的运行时间。
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