[发明专利]嵌入式软件运行时间测试方法在审
| 申请号： | 201611128661.8 | 申请日： | 2016-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN106598855A | 公开（公告）日： | 2017-04-26 |
| 发明（设计）人： | 孟娟;林希佳;龚茜茜;刘国辉 | 申请（专利权）人： | 南京晨光集团有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心32203 | 代理人： | 唐代盛 |
| 地址： | 210006 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 嵌入式 软件 运行 时间 测试 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种嵌入式软件运行时间测试方法，其特征在于步骤如下：
(1)选择需要测试的嵌入式软件对应的硬件芯片可测试的IO口，并对IO进行相应的初始化配置；
(2)在被测嵌入式软件可执行代码前端后端进行插桩，其中代码前端将IO口输出值配置为低电平，代码后端将IO口输出值配置为高电平；
(3)将修改后代码进行编译，编译无误后重新写入嵌入式硬件芯片，上电运行后，利用示波器测试该IO口，其中低电平时间即为被测嵌入式软件代码的运行时间。
2.一种嵌入式软件运行时间测试方法，其特征在于步骤如下：
(1)选择需要测试的嵌入式软件对应的硬件芯片可测试的IO口，并对IO进行相应的初始化配置；
(2)在被测嵌入式软件可执行代码前端后端进行插桩，其中代码前端将IO口输出值配置为高电平，代码后端将IO口输出值配置为低电平。
(3)将修改后代码进行编译，编译无误后重新写入嵌入式硬件芯片，上电运行后，利用示波器测试该IO口，其中高电平时间即为被测嵌入式软件代码的运行时间。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京晨光集团有限责任公司，未经南京晨光集团有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611128661.8/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种实时获取PC客户端软件数据的方法及装置
- 下一篇：一种路径检测方法及装置
