[发明专利]一种通用强光衰减器及其强光光谱测量系统在审
申请号: | 201611123163.4 | 申请日: | 2016-12-08 |
公开(公告)号: | CN108181674A | 公开(公告)日: | 2018-06-19 |
发明(设计)人: | 苑高强;刘民玉;熊祖盛 | 申请(专利权)人: | 高利通科技(深圳)有限公司 |
主分类号: | G02B5/02 | 分类号: | G02B5/02;G02B6/26;G01J3/28 |
代理公司: | 深圳市合道英联专利事务所(普通合伙) 44309 | 代理人: | 朱思全 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙华新区观澜街道观*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种通用强光衰减器及其强光光谱测量系统,该通用强光衰减器包括封闭外壳、设置于封闭外壳内的漫反射的光衰减柱体、设置固定于外壳上的至少一入射光纤接头和至少一出射光纤接头,将入射的强光导入强光衰减器,漫反射的光衰减柱体将导入的强光通过漫反射将光衰减,如此可以将强光衰减后导入测量仪器,以便于对强光的测量分析,可以避免用光谱仪测量光谱时出现饱和现象,本发明提供的通用强光衰减器及其强光光谱测量系统可广泛用于强光测量分析,方便实用。 | ||
搜索关键词: | 强光 衰减器 光谱测量系统 光衰减 漫反射 通用 测量分析 封闭外壳 柱体 光谱仪测量 饱和现象 测量仪器 出射光纤 入射光纤 光谱 入射 衰减 | ||
【主权项】:
1.一种通用强光衰减器,其特征在于,包括封闭外壳、设置于封闭外壳内的漫反射的光衰减柱体、设置固定于外壳上的至少一入射光纤接头和至少一出射光纤接头。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于高利通科技(深圳)有限公司,未经高利通科技(深圳)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201611123163.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。