[发明专利]一种通用强光衰减器及其强光光谱测量系统在审
| 申请号： | 201611123163.4 | 申请日： | 2016-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN108181674A | 公开（公告）日： | 2018-06-19 |
| 发明（设计）人： | 苑高强;刘民玉;熊祖盛 | 申请（专利权）人： | 高利通科技（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G02B5/02 | 分类号： | G02B5/02;G02B6/26;G01J3/28 |
| 代理公司： | 深圳市合道英联专利事务所(普通合伙) 44309 | 代理人： | 朱思全 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华新区观澜街道观*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 强光 衰减器 光谱测量系统 光衰减 漫反射 通用 测量分析 封闭外壳 柱体 光谱仪测量 饱和现象 测量仪器 出射光纤 入射光纤 光谱 入射 衰减 | ||
1.一种通用强光衰减器，其特征在于，包括封闭外壳、设置于封闭外壳内的漫反射的光衰减柱体、设置固定于外壳上的至少一入射光纤接头和至少一出射光纤接头。
2.根据权利要求1所述通用强光衰减器,其特征在于，所述封闭外壳包括依次密封连接的顶盖、筒身和底盖；所述漫反射的光衰减柱体包括依次相接的上漫反射片、内漫反射衰减壁和下漫反射片，内漫反射衰减壁设置固定于筒身的内侧，下漫反射片设置固定于壳体底盖上方，上漫反射片设置固定于壳体顶盖下方；所述入射光纤接头和出射光纤接头设置固定于封闭外壳的顶盖上。
3.根据权利要求1所述通用强光衰减器,其特征在于，所述封闭外壳包括依次密封连接的顶盖、筒身和底盖；所述漫反射的光衰减柱体包括相接的带顶部的内漫反射衰减壁和下漫反射片，带顶部的内漫反射衰减壁的壁身设置固定于筒身的内侧，带顶部的内漫反射衰减壁的顶部位于壳体顶盖下方，下漫反射片设置固定于壳体底盖上方；所述入射光纤接头和出射光纤接头设置固定于封闭外壳的顶盖上。
4.根据权利要求1－3任一所述通用强光衰减器，其特征在于，所述入射光纤接头处设置衰减片，所述出射光纤接头处设置衰减片。
5.根据权利要求2所述通用强光衰减器，其特征在于，所述顶盖固定入射光纤接头、出射光纤接头和上漫反射片；所述筒身固定内漫反射衰减壁，所述底盖密封下漫反射片和内漫反射衰减壁。
6.根据权利要求3所述通用强光衰减器，其特征在于，所述顶盖固定入射光纤接头和出射光纤接头，所述筒身固定带顶部的内漫反射衰减壁，所述底盖密封下漫反射片和带顶部的内漫反射衰减壁。
7.一种强光光谱测量系统，其特征在于，包括依次相接的入射光纤、通用强光衰减器、出射光纤和光谱仪，所述通用强光衰减器包括封闭外壳、设置于封闭外壳内的漫反射的光衰减柱体、设置固定于外壳上的至少一入射光纤接头和至少一出射光纤接头。
8.根据权利要求7所述的强光光谱测量系统，其特征在于，所述封闭外壳包括依次密封连接的顶盖、筒身和底盖；所述漫反射的光衰减柱体包括依次相接的上漫反射片、内漫反射衰减壁和下漫反射片，内漫反射衰减壁设置固定于筒身的内侧，下漫反射片设置固定于壳体底盖上方，上漫反射片设置固定于壳体顶盖下方；所述入射光纤接头和出射光纤接头设置固定于封闭外壳的顶盖上。
9.根据权利要求7所述强光光谱测量系统，其特征在于，所述封闭外壳包括依次密封连接的顶盖、筒身和底盖；所述漫反射的光衰减柱体包括相接的带顶部的内漫反射衰减壁和下漫反射片，带顶部的内漫反射衰减壁的壁身设置固定于筒身的内侧，带顶部的内漫反射衰减壁的顶部位于壳体顶盖下方，下漫反射片设置固定于壳体底盖上方；所述入射光纤接头和出射光纤接头设置固定于封闭外壳的顶盖上。
10.根据权利要求7－9任一所述强光光谱测量系统，其特征在于，所述入射光纤接头处设置衰减片，所述出射光纤接头处设置衰减片。
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