[发明专利]一种TDI-CMOS荧光检测仪器扫描速度失配的补偿方法有效
| 申请号： | 201611122207.1 | 申请日： | 2016-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN106770106B | 公开（公告）日： | 2020-06-05 |
| 发明（设计）人： | 汪辉;封松林 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海高等研究院 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 余明伟 |
| 地址： | 201210 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种TDI‑CMOS荧光检测仪器扫描速度失配的补偿方法，包括：在生物芯片上设定一定长度的校准线，通过判断扫描到的校准线图像的长度来判断TDI‑CMOS荧光检测仪器扫描速度是否失配，并据此调整扫描速度，使得TDI‑CMOS荧光检测仪器的工作时序与扫描速度扫描幅度严格配合。本发明的TDI‑CMOS荧光检测仪器扫描速度失配的补偿方法可高效地检测生物芯片中的微弱荧光信号并形成高分辨率的图像，促进生物研究的发展。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 tdi cmos 荧光 检测 仪器 扫描 速度 失配 补偿 方法 | ||
【主权项】：
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