[发明专利]一种TDI-CMOS荧光检测仪器扫描速度失配的补偿方法有效
| 申请号： | 201611122207.1 | 申请日： | 2016-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN106770106B | 公开（公告）日： | 2020-06-05 |
| 发明（设计）人： | 汪辉;封松林 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海高等研究院 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 余明伟 |
| 地址： | 201210 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 tdi cmos 荧光 检测 仪器 扫描 速度 失配 补偿 方法 | ||
1.一种TDI-CMOS荧光检测仪器扫描速度失配的补偿方法，其特征在于，所述TDI-CMOS荧光检测仪器扫描速度失配的补偿方法至少包括：
步骤S1：在标定的生物芯片上设定校准线，所述校准线的长度设定为第一数量个像素的长度，其中，所述第一数量为正整数；
步骤S2：基于时间延迟积分技术对所述校准线进行扫描，获取所述校准线的图像，若所述校准线的图像长度等于所述校准线的长度，则扫描速度匹配，校准完成，可对所述生物芯片上的物质进行扫描成像；若所述校准线的图像长度小于所述校准线的长度，则扫描速度失配，执行步骤S3；若所述校准线的图像长度大于所述校准线的长度，则扫描速度失配，执行步骤S4；
步骤S3：减小扫描速度，并以减小后的扫描速度对所述校准线进行扫描，执行步骤S2；
步骤S4：增大扫描速度，并以增大后的扫描速度对所述校准线进行扫描，执行步骤S2。
2.根据权利要求1所述的TDI-CMOS荧光检测仪器扫描速度失配的补偿方法，其特征在于：采用微量点样技术在所述生物芯片上绘制荧光剂，以此形成所述校准线。
3.根据权利要求1所述的TDI-CMOS荧光检测仪器扫描速度失配的补偿方法，其特征在于：通过降低搭载所述TDI-CMOS荧光检测仪器的转动平台的转速来减小扫描速度。
4.根据权利要求1所述的TDI-CMOS荧光检测仪器扫描速度失配的补偿方法，其特征在于：通过增加搭载所述TDI-CMOS荧光检测仪器的转动平台的转速来增大扫描速度。
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