[发明专利]一种雷达杂波图检测门限自适应设置方法有效

专利信息
申请号: 201611013641.6 申请日: 2016-11-18
公开(公告)号: CN106646396B 公开(公告)日: 2019-05-07
发明(设计)人: 任伦;蔡兴雨;朱思桥 申请(专利权)人: 西安电子工程研究所
主分类号: G01S7/292 分类号: G01S7/292;G01S7/35
代理公司: 西北工业大学专利中心 61204 代理人: 刘新琼
地址: 710100 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种雷达杂波图检测门限自适应设置方法,该方法可对不同区域设置不同的检测门限系数,从而在强杂波区域设置较高的检测门限,已达到降低虚警的目的,同时在弱杂波区域设置较低的检测门限,以提高该区域的检测概率。从雷达整个检测区域考虑,雷达的检测性能得到较大改善。
搜索关键词: 检测 门限 区域设置 自适应设置 雷达杂波 杂波 雷达 检测区域 门限系数 虚警 概率
【主权项】:
1.一种雷达杂波图检测门限自适应设置方法,其特征在于步骤如下:步骤1:将雷达探测区域划分为若干个子区域;步骤2:对子区域进行量化,量化时采用计算子区域的水平投影面积或者空间体积;步骤3:计算各子区域内的点迹密度L,计算时使用子区域点数除以该子区域对应的量化值;步骤4:设置点迹密度门限上限M,设置点迹密度门限下限N,其中M≥N;所述点迹密度门限上限为根据雷达虚警概率计算出最大点迹数量,然后最大点迹数量除以整个检测区域的量化值;所述的点迹密度门限下限为降低雷达虚警概率,根据降低后的虚警概率计算出最大点迹数量,然后用最大点迹数量除以整个检测区域的量化值;步骤5:将各子区域内的点迹密度L与点迹密度门限值进行比较:当L≥M,则增大该区域内杂波图检测门限系数c,提高杂波图检测门限;当L≤N,则减小该区域内杂波图检测门限系数c;步骤6:设置最大杂波图门限系数值cmax,当杂波图门限系数值大于等于cmax时,不再增加;设置最小杂波图门限系数值cmin,当杂波图门限系数值小于等于cmin时,不再减小。
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