[发明专利]一种雷达杂波图检测门限自适应设置方法有效
申请号: | 201611013641.6 | 申请日: | 2016-11-18 |
公开(公告)号: | CN106646396B | 公开(公告)日: | 2019-05-07 |
发明(设计)人: | 任伦;蔡兴雨;朱思桥 | 申请(专利权)人: | 西安电子工程研究所 |
主分类号: | G01S7/292 | 分类号: | G01S7/292;G01S7/35 |
代理公司: | 西北工业大学专利中心 61204 | 代理人: | 刘新琼 |
地址: | 710100 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 门限 区域设置 自适应设置 雷达杂波 杂波 雷达 检测区域 门限系数 虚警 概率 | ||
1.一种雷达杂波图检测门限自适应设置方法,其特征在于步骤如下:
步骤1:将雷达探测区域划分为若干个子区域;
步骤2:对子区域进行量化,量化时采用计算子区域的水平投影面积或者空间体积;
步骤3:计算各子区域内的点迹密度L,计算时使用子区域点数除以该子区域对应的量化值;
步骤4:设置点迹密度门限上限M,设置点迹密度门限下限N,其中M≥N;所述点迹密度门限上限为根据雷达虚警概率计算出最大点迹数量,然后最大点迹数量除以整个检测区域的量化值;所述的点迹密度门限下限为降低雷达虚警概率,根据降低后的虚警概率计算出最大点迹数量,然后用最大点迹数量除以整个检测区域的量化值;
步骤5:将各子区域内的点迹密度L与点迹密度门限值进行比较:当L≥M,则增大该区域内杂波图检测门限系数c,提高杂波图检测门限;当L≤N,则减小该区域内杂波图检测门限系数c;
步骤6:设置最大杂波图门限系数值cmax,当杂波图门限系数值大于等于cmax时,不再增加;设置最小杂波图门限系数值cmin,当杂波图门限系数值小于等于cmin时,不再减小。
2.根据权利要求1所述的雷达杂波图检测门限自适应设置方法,其特征在于步骤1中按照方位、俯仰、距离三个维度根据需要任意组合进行划分。
3.根据权利要求1所述的雷达杂波图检测门限自适应设置方法,其特征在于步骤4中设置多个点迹密度门限上限或点迹密度门限下限。
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