[发明专利]一种雷达杂波图检测门限自适应设置方法

说明书

本发明涉及一种雷达杂波图检测门限自适应设置方法，该方法可对不同区域设置不同的检测门限系数，从而在强杂波区域设置较高的检测门限，已达到降低虚警的目的，同时在弱杂波区域设置较低的检测门限，以提高该区域的检测概率。从雷达整个检测区域考虑，雷达的检测性能得到较大改善。

技术领域

本发明属于雷达目标检测技术领域，涉及雷达杂波图检测新方法；通过该杂波图检测门限自适应设置方法，实现了雷达杂波图检测门限的精细调整，减小了抑制局部强杂波带来的检测损失。

背景技术

杂波图技术实际是采用“时间单元”平均恒虚警率的处理方法，在时间维上求平均值，这时将雷达周围的二维平面分成许多方位距离单元，把方位距离单元的接收信号存入一个存储器中，每个存储单元对应一个方位距离单元，并且随着天线的扫描每个单元存储的信号进行递推更新，这就得到幅度杂波图。

杂波图检测基本原理如图1所示，空间单元里存储的是天线多次扫描所得结果的加权平均值，以此作为杂波当前平均值的估计值。图中，k为权值系数，k的取值要使得估计值比较平稳，一般取k＝1/8，将新接收到的杂波模值乘以k，再加上原来存储值的1-k倍，得到最新的杂波估计值。c为门限系数，以杂波估计值与门限系数的乘积作为最终的检测门限。

上述杂波图检测方式对于局部存在强杂波干扰的环境，为了抑制局部强杂波带来的高虚警，需要将门限系数c提高，以此增大检测门限，降低虚警。但是该处理方式导致检测概率的降低，对于杂波较弱的区域来说，带来了不必要的检测损失。

为此本发明提出一种自适应的杂波图检测门限设置方法，该方法可对不同区域设置不同的检测门限系数，从而在强杂波区域设置较高的检测门限，已达到降低虚警的目的，同时在弱杂波区域设置较低的检测门限，以提高该区域的检测概率。从雷达整个检测区域考虑，雷达的检测性能得到较大改善。

发明内容

要解决的技术问题

为了避免现有技术的不足之处，本发明提出一种雷达杂波图检测门限自适应设置方法。

技术方案

一种雷达杂波图检测门限自适应设置方法，其特征在于步骤如下：

步骤1：将雷达探测区域划分为若干个子区域；

步骤2：对子区域进行量化，量化时可采用计算子区域的水平投影面积或者空间体积；

步骤3：计算各子区域内的点迹密度L，计算时使用子区域点数除以该子区域对应的量化值；

步骤4：设置点迹密度门限上限M，设置点迹密度门限下限N，其中M≥N；所述点迹密度门限上限为根据雷达虚警概率计算出最大点迹数量，然后用该值除以整个检测区域的量化值；所述的点迹密度门限下限为将降低雷达虚警概率，根据降低后的虚警概率计算出最大点迹数量，然后用该值除以整个检测区域的量化值；

步骤5：将各子区域内的点迹密度L与点迹密度门限值进行比较：当L≥M，则增大该区域内杂波图检测门限系数c，提高杂波图检测门限；当L≤N，则减小该区域内杂波图检测门限系数c；

步骤6：设置最大杂波图门限系数值c_max，当杂波图门限系数值大于等于c_max时，不再增加；设置最小杂波图门限系数值c_min，当杂波图门限系数值小于等于c_min时，不再减小。

步骤1中按照方位、俯仰、距离三个维度根据需要任意组合进行划分。

步骤4中可设置多个点迹密度门限上限或点迹密度门限下限。

有益效果

本发明与现有技术相比具有以下优点：

1、对杂波图检测门限进行精细调节；