[发明专利]过热检测电路、过热保护电路以及半导体装置有效
| 申请号： | 201610959066.2 | 申请日： | 2016-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN106840433B | 公开（公告）日： | 2020-03-06 |
| 发明（设计）人： | 中下贵雄 | 申请（专利权）人： | 艾普凌科有限公司 |
| 主分类号： | G01K7/01 | 分类号： | G01K7/01 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 李辉;邓毅 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 过热检测电路、过热保护电路以及半导体装置。提供能够简便地调整过热检测电路的检测温度的过热检测电路。作为解决手段，包括第1电阻、具有与第1电阻相同的温度特性并能够调整电阻值的第2电阻、以及与第2电阻的一端连接的热敏元件，基于第1电压的第1电流被提供给第1电阻，与第1电流成比例的电流被提供给第2电阻，由此，在第2电阻的另一端生成第2电压，比较第1电压与第2电压，输出其比较结果作为过热检测信号。 | ||
| 搜索关键词： | 过热 检测 电路 保护 以及 半导体 装置 | ||
【主权项】：
一种过热检测电路，其特征在于，其包括：第1电阻；第2电阻，其具有与所述第1电阻相同的温度特性，能够调整电阻值；以及热敏元件，其与所述第2电阻的一端连接，基于第1电压的第1电流被提供给所述第1电阻，与所述第1电流成比例的电流被提供给所述第2电阻，由此，在所述第2电阻的另一端生成第2电压，比较所述第1电压与所述第2电压，输出其比较结果作为过热检测信号。
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