[发明专利]非制冷焦平面红外探测器芯片真空封装结构及工艺在审

专利信息
申请号: 201610916727.3 申请日: 2016-10-21
公开(公告)号: CN106404187A 公开(公告)日: 2017-02-15
发明(设计)人: 苏玉辉;太云见;冯江敏;信思树;普朝光;余瑞云;尹敏杰;余连杰 申请(专利权)人: 云南北方昆物光电科技发展有限公司
主分类号: G01J5/20 分类号: G01J5/20;G01J5/04;G01J5/02;H01L23/26;H01L31/0203
代理公司: 昆明祥和知识产权代理有限公司53114 代理人: 和琳
地址: 650000 云南*** 国省代码: 云南;53
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摘要: 非制冷焦平面红外探测器芯片真空封装结构及工艺,尤其是一种可靠性好、体积小、集成度高的非制冷焦平面红外探测器芯片真空封装结构及工艺。本发明的封装结构包括壳体、薄膜吸气剂、红外探测器芯片以及光学窗口,红外探测器芯片利用焊料片通过热熔方式焊接在壳体内底部,薄膜吸气剂长在光学窗口上,光学窗口焊接在壳体上;壳体为陶瓷管壳,上方开口,内部制备有金属焊盘,壳体背部设置有引脚,红外探测器芯片利用金丝与金属焊盘连接,通过金属焊盘、引脚与外部实现电连通。本发明无需热电制冷器,采用的薄膜吸气剂,有效地减少了器件体积,同时所有组装均采用焊料片,减少了组件内部的放气因素,并且组件在封装过程中就完成了排气。
搜索关键词: 制冷 平面 红外探测器 芯片 真空 封装 结构 工艺
【主权项】:
一种非制冷焦平面红外探测器芯片真空封装结构及工艺,其特征在于该封装结构包括壳体(1)、薄膜吸气剂、红外探测器芯片以及光学窗口,红外探测器芯片利用焊料片通过热熔方式焊接在壳体(1)内底部,薄膜吸气剂长在光学窗口上,光学窗口焊接在壳体(1)上;壳体(1)为陶瓷管壳,上方开口,开口处制备有金属焊盘(2),壳体(1)背部设置有引脚(3),红外探测器芯片利用金丝与金属焊盘(2)连接,通过金属焊盘(2)、引脚(3)与外部实现电连通。
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