[发明专利]一种圈闭有利区带评价方法和装置有效
| 申请号： | 201610889139.5 | 申请日： | 2016-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN106651638B | 公开（公告）日： | 2019-08-27 |
| 发明（设计）人： | 李胜利;于兴河 | 申请（专利权）人： | 中国地质大学(北京) |
| 主分类号： | G06Q50/02 | 分类号： | G06Q50/02;G06Q10/06 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 杨勋 |
| 地址： | 100000*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种圈闭有利区带的评价方法，其中该方法包括：获取评价区域的多种沉积微相的沉积参数等值线；将多种所述沉积参等值线套合成图，形成沉积参数等值线套合图；将所述沉积参数等值线套合图、断层分布图以及优势泥岩系数分布图进行多层次的叠合成图，形成有利储盖组合区带图；将所述有利储盖组合区带图以及预先获取的坡折带分布图进行叠合成图，形成岩性圈闭有利区带图；将所述有利储盖组合区带图以及预先获取的不整合分布图进行叠合成图，形成地层圈闭有利区带图。该方法通过叠合以及套合相结合的方式，实现了对岩性圈闭和地层圈闭的评价，准确性更高，能够得到较为精确的评价结果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 圈闭 有利 评价 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种圈闭有利区带的评价方法，其特征在于，包括：获取评价区域的多种沉积微相的沉积参数等值线；将多种所述沉积参数 等值线套合成图，形成沉积参数等值线套合图；将所述沉积参数等值线套合图、断层分布图以及优势泥岩系数分布图进行多层次的叠合成图，形成有利储盖组合区带图；将所述有利储盖组合区带图以及预先获取的坡折带分布图进行叠合成图，形成岩性圈闭有利区带图；将所述有利储盖组合区带图以及预先获取的不整合分布图进行叠合成图，形成地层圈闭有利区带图；其中，所述将所述沉积参数等值线套合图、断层分布图以及优势泥岩系数分布图进行多层次的叠合成图，形成有利储盖组合区带图，包括：将所述沉积参数等值线套合图以及所述断层分布图进行一次叠合成图，形成有利储集区带图；将所述有利储集区带图以及所述优势泥岩系数分布图进行二次叠合成图，形成有利储盖组合区带图；所述将所述沉积参数等值线套合图以及所述断层分布图进行一次叠合成图，形成有利储集区带图具体包括：根据所述沉积参数等值线套合图中沉积参数等值线，确定沉积相分布图；使用所述沉积参数对应的有利沉积参数，对所述沉积相分布图进行约束，确定有利相带分布图；将所述有利相带分布图与所述断层分布图进行一次叠合成图，形成有利储集区带图。
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