[发明专利]W波段低噪声功率放大芯片的在片测试系统及测试方法在审
| 申请号： | 201610883450.9 | 申请日： | 2016-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN106597249A | 公开（公告）日： | 2017-04-26 |
| 发明（设计）人： | 陆海燕;王维波;程伟;郭方金;孔月婵;陈堂胜 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第五十五研究所 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 南京君陶专利商标代理有限公司32215 | 代理人： | 沈根水 |
| 地址： | 210016 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明是W波段低噪声功率放大芯片的在片测试系统及测试方法，其结构包括处理器、探针台、噪声仪、电源，其中处理器的第一信号输出/输入端与探针台的信号输入/输出端对应相接，处理器的第二信号输出/输入端与噪声仪的信号输入/输出端对应相接，噪声仪的A信号输出端连接W波段低噪声源的信号输入端，噪声仪的B信号输出端连接下变频模块的信号输入端，电源的电源输出端接处理器、直流探卡的电源信号输入端。优点避免了装架噪声系数测试效率低下的问题，同时避免了传统在片测试由于系统损耗过大,在该频段无法实现噪声系数归零的问题。通过噪声级联公式处理相应数据计算出低噪声芯片的实际噪声系数、增益等关键指标。 | ||
| 搜索关键词： | 波段 噪声 功率 放大 芯片 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
W波段低噪声功率放大芯片的在片测试系统，其特征是包括处理器、探针台、噪声仪、电源，其中处理器的第一信号输出/输入端与探针台的信号输入/输出端对应相接，处理器的第二信号输出/输入端与噪声仪的信号输入/输出端对应相接，噪声仪的A信号输出端连接W波段低噪声源的信号输入端，噪声仪的B信号输出端连接下变频模块的信号输入端，电源的电源输出端接处理器、直流探卡的电源信号输入端。
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