[发明专利]功率状态覆盖率度量及其估计方法在审
| 申请号： | 201610870809.9 | 申请日： | 2016-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN107103105A | 公开（公告）日： | 2017-08-29 |
| 发明（设计）人： | 斯坦利·约翰;山迪普·库马·高尔;黄智强;李云汉 | 申请（专利权）人： | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京德恒律治知识产权代理有限公司11409 | 代理人： | 章社杲,李伟 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明的实施例提供了半导体芯片设计中功率状态覆盖率度量及其估计方法。在一些实施例中，在通过至少一个处理器执行的用于估计电子系统级(ESL)模型的总功率状态覆盖率的方法中，为每个块设置第一值和第二值。为ESL模型中的每个块选择至少一个验证用例。对于至少一个验证用例的每个(a)设置目标覆盖率值，(b)实施寄存器传输级(RTL)模拟，(c)得到实际覆盖率值，以及(d)基于实际覆盖率值是否小于目标覆盖率值来更新第一值和第二值。计算每个块的功率状态覆盖率。计算ESL模型的总功率状态覆盖率。 | ||
| 搜索关键词： | 功率 状态 覆盖率 度量 及其 估计 方法 | ||
【主权项】：
一种通过至少一个处理器执行的用于管理芯片设计中的模块的验证用例的方法，所述方法包括：建立包括所述模块的多个块的电子系统级(ESL)模型；为所述多个块的每个块限定至少一个电子系统级功率状态；为所述电子系统级功率状态的每一个选择至少一个验证用例；为所述验证用例的每一个设置目标覆盖率值；为所述验证用例的每一个实施执行寄存器传输级(RTL)模拟；得到所述验证用例的每个的实际覆盖率值；更新所述多个块的每个块的所述电子系统级功率状态和所述验证用例。
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