[发明专利]减轻电容感测中的干扰在审
申请号: | 201610870625.2 | 申请日: | 2016-09-30 |
公开(公告)号: | CN107037938A | 公开(公告)日: | 2017-08-11 |
发明(设计)人: | M.斯蒂芬森;F.施米特 | 申请(专利权)人: | 辛纳普蒂克斯公司 |
主分类号: | G06F3/044 | 分类号: | G06F3/044;G06F3/041 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人: | 杜娟娟,陈岚 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 用于电容感测的处理系统包括用于基于所产生的信号、通过利用传感器电极和发射器电极执行电容感测来获得第一电容传感器数据的功能,所述传感器电极被配置成从所述发射器电极接收所述所产生的信号。该处理系统还包括用于使用传感器电极获得分布、基于第一分布估计干扰测量结果的功能。所述分布沿电容感测的接收器轴,并且干扰测量结果与干扰相对应。使用干扰测量结果来减轻干扰在第一电容传感器数据中的影响以获得第二电容传感器数据,并且使用第二电容传感器数据来确定输入对象在感测区中的位置信息。 | ||
搜索关键词: | 减轻 电容 中的 干扰 | ||
【主权项】:
一种用于电容感测的处理系统,该处理系统包括用于以下各项的功能:基于所产生的信号、通过利用第一多个传感器电极和发射器电极执行电容感测来获得第一电容传感器数据,所述第一多个传感器电极被配置成从发射器电极接收所述所产生的信号;使用所述第一多个传感器电极来获得第一分布,所述第一分布沿所述电容感测的接收器轴;基于所述第一分布来估计第一干扰测量结果,所述第一干扰测量结果与干扰相对应;使用所述干扰测量结果来减轻干扰在第一电容传感器数据中的影响以获得第二电容传感器数据;以及使用所述第二电容传感器数据来确定输入对象在感测区中的位置信息。
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