[发明专利]一种LC‑SLM误差补偿方法及其非球面面型检测方法在审

专利信息
申请号: 201610865086.3 申请日: 2016-09-29
公开(公告)号: CN106289107A 公开(公告)日: 2017-01-04
发明(设计)人: 赵自新;肖昭贤;张航瑛;赵宏 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司61200 代理人: 王萌
地址: 710049 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及光学非球面精密测量领域,涉及了一种基于LC‑SLM误差补偿和数字相移技术的非球面面型检测方法。利用ZEMAX软件光学追迹得到光学系统的理想波像差,采用一系列正交Zernike多项式表征其波像差,得到对应的计算全息图,并加载到LC‑SLM上,利用残差迭代法,降低了LC‑SLM曲率误差和边缘场效应等因素带来的影响,提高了LC‑SLM的波前模拟精度,结合起补偿作用的会聚透镜和数字相移及干涉条纹分析技术,大大提高了测量的动态范围,可以实现对大非球面度面型的实时检测。
搜索关键词: 一种 lc slm 误差 补偿 方法 及其 球面 检测
【主权项】:
一种LC‑SLM误差补偿方法,其特征在于:包括以下步骤:(1)利用光线追踪采用一系列正交Zernike多项式的线性组合表征光学系统的理想波像差;(2)将步骤(1)得到的理想波像差对应的全息图加载到LC‑SLM上,搭建标准的泰曼‑格林干涉光路,其中一个光臂经标准平面镜反射回的光作为参考光,另一个光臂中经反射式空间光调制器反射回来的光作为物光;(3)利用标准的泰曼‑格林干涉光路采集干涉条纹,然后根据该干涉条纹获取与其对应的第一次波像差,将该第一次波像差与理想波像差做差,得到残余误差,取共轭并转化为灰度图,将该灰度图叠加到第一次获取的波像差对应的灰度图上,生成新的全息图后加载到LC‑SLM上,得到第二次的波像差,如此迭代直至残差迭代符合精度要求。
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