[发明专利]MEMS器件三维封装互连材料有效
申请号: | 201610750805.7 | 申请日: | 2016-08-26 |
公开(公告)号: | CN106271183B | 公开(公告)日: | 2018-07-24 |
发明(设计)人: | 张亮;刘志权;郭永环;钟素娟 | 申请(专利权)人: | 江苏师范大学 |
主分类号: | B23K35/26 | 分类号: | B23K35/26 |
代理公司: | 徐州市三联专利事务所 32220 | 代理人: | 周爱芳 |
地址: | 221116 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了MEMS器件三维封装互连材料,属于MEMS互连材料领域。该互连材料的纳米PrSn3含量为0.05~0.5%,纳米Cu6Sn5含量为0.5~1.5%,亚微米Cu颗粒含量为0.05~0.5%,Ag纳米线为0.5~2.0%,Bi含量为40~60%,其余为Sn。使用纳米PrSn3颗粒、纳米Cu6Sn5颗粒、亚微米Cu颗粒,Ag纳米线,预先将Sn/Bi粉末混合均匀,添加钎剂混合,制备膏状的互连材料,然后加入亚微米Cu颗粒和Ag纳米线,最后添加纳米PrSn3颗粒、纳米Cu6Sn5颗粒。采用高能超声搅拌制备成焊膏使用。本互连材料具有较低的低熔点和较高的性能,可用于MEMS器件的互连。 | ||
搜索关键词: | 互连材料 纳米线 三维封装 制备 粉末混合 高能超声 低熔点 膏状 焊膏 互连 可用 钎剂 | ||
【主权项】:
1.一种MEMS器件三维封装互连材料,其特征在于:其成分及质量百分比为:纳米PrSn3含量为0.05~0.5%,纳米Cu6Sn5含量为0.5~1.5%,亚微米Cu颗粒含量为0.05~0.5%,Ag纳米线为0.5~2.0%,Bi含量为40~60%,其余为Sn。
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