[发明专利]一种采用导电纳米线的电学原子力显微镜探针在审
| 申请号： | 201610742515.8 | 申请日： | 2016-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN107782919A | 公开（公告）日： | 2018-03-09 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 苏州泰岩新材料有限公司 |
| 主分类号： | G01Q60/40 | 分类号： | G01Q60/40 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215500 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种采用导电纳米线的电学和导电原子力显微镜探针及其制备方法，解决了目前电学和导电原子力显微镜探针的瓶颈问题，大大提高了原子力显微镜探针的寿命和分辨率。导电纳米线探针可以采用直接粘接法和化学气相沉积生长法制备。充分利用了导电一维纳米材料探针的超高分辨率和超长使用寿命，解决了电学和导电原子力显微镜探针测试长期以来的寿命短，易磨损等问题，提高了测试的一致性，满足了科研、生产和教学等不同应用领域的需求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 采用 导电 纳米 电学 原子 显微镜 探针 | ||
【主权项】：
一种纳米结构的原子力显微镜探针，特别涉及一种采用导电纳米线的电学和导电原子力显微镜探针，其特征在于所述针尖上(1)有导电纳米线(2)。
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