[发明专利]JTAG调试装置以及JTAG调试方法在审
| 申请号： | 201610740658.5 | 申请日： | 2016-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN107783874A | 公开（公告）日： | 2018-03-09 |
| 发明（设计）人： | 邓惠娟;马进;刘宇;汪浩 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26;G06F11/273 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518129 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及JTAG调制装置以及JTAG调试方法。JTAG调试装置用于调试芯片中的待调试单元，JTAG调试装置包括TAP控制器，被配置为经由外部的JTAG端口与外部进行通信，并基于从JTAG端口接收的信号生成包含待调试单元地址以及调试指令的调试信号，调试信号是基于JTAG协议的JTAG端口信号；信号转换单元，被配置为接收TAP控制器输出的调试信号，并将调试信号从JTAG端口信号转换成能够对所述待调试单元的从端口进行访问的总线从端口信号；以及总线，被配置为获取信号转换单元输出的被转换为总线从端口信号的调试信号，并基于调试信号将调试指令传输给待调试单元地址所指示的待调试单元。根据本发明，能够在处理器发生故障或者没有处理器参与的情况下实现对芯片内部逻辑的调试。 | ||
| 搜索关键词： | jtag 调试 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
一种JTAG调试装置，用于调试芯片中的待调试单元，所述JTAG调试装置包括：TAP控制器，被配置为经由外部的JTAG端口与外部进行通信，并基于从所述JTAG端口接收的信号生成包含待调试单元地址以及调试指令的调试信号，所述调试信号是基于JTAG协议的JTAG端口信号；信号转换单元，被配置为接收所述TAP控制器输出的所述调试信号，并将所述调试信号从所述JTAG端口信号转换成能够对所述待调试单元的从端口进行访问的总线从端口信号；以及总线，被配置为获取所述信号转换单元输出的被转换为所述总线从端口信号的所述调试信号，并基于所述调试信号将所述调试指令传输给所述待调试单元地址所指示的所述待调试单元。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华为技术有限公司，未经华为技术有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201610740658.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种用于水产养殖水草空高长根的设备
- 下一篇：一种带种子漂浮器的水培陶瓷盆
