[发明专利]一种光有源器件的自动老化系统和方法有效
申请号: | 201610740333.7 | 申请日: | 2016-08-26 |
公开(公告)号: | CN106370963B | 公开(公告)日: | 2019-08-20 |
发明(设计)人: | 赵雪玲;韩丽娟;梁飞;梅雪;王文刚 | 申请(专利权)人: | 武汉光迅科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/02 | 分类号: | G01R31/02 |
代理公司: | 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 | 代理人: | 王泽云 |
地址: | 430205 湖北省*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明涉及一种光有源器件的自动老化系统,包括光器件装配单元、驱动控制单元、主控逻辑单元、协议转换单元和参数配置显示单元。针对光有源器件老化过程中TEC和LD不受限而导致光有源器件失效的情况,驱动控制单元在TEC两端和LD两端设计了超压保护和极限电流限制功能。主控逻辑单元具有线路检测功能,老化开始前检测光器件装配及线路故障,老化开启后监测整个老化过程的异常情况,进入异常处理程序。参数配置显示单元配置老化目标电流﹑温度﹑监控项参数限值以及老化时长,完成老化过程计时,并在老化过程中实时显示记录老化数据。本发明提供的方法能够实现光有源器件的自动老化及异常处理,保证老化过程的稳定性。 | ||
搜索关键词: | 一种 有源 器件 自动 老化 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种光有源器件的自动老化系统,其特征在于包括光器件装配单元、驱动控制单元、主控逻辑单元、协议转换单元和参数配置显示单元;所述光器件装配单元用于装配待测试的光有源器件;所述驱动控制单元与光器件装配单元相连与待测试的光有源器件建立电气连接;所述主控逻辑单元被嵌入到所述驱动控制单元中,所述驱动控制单元在其控制下执行自动化测试程序,所述主控逻辑单元通过所述协议转换单元与所述参数配置显示单元进行交互,从所述参数配置显示单元接收配置参数,并上报老化测试数据;所述参数配置显示单元配置老化测试参数,包括但不限于老化目标电流、温度、监控项参数限制、老化时长;所述驱动控制单元包括TEC控制模块、LD驱动模块以及通信接口模块;所述TEC控制模块对待测试的光有源器件的TEC模块进行驱动控制,所述LD驱动模块对待测试的光有源器件中的LD模块进行驱动控制;所述主控逻辑单元控制驱动控制单元使能待测试的光有源器件的TEC模块,并对待测试的光有源器件的LD模块加微小电流,基于参数配置显示单元监控待测试的光有源器件的各项老化数据;待测试的光有源器件的TEC模块温度和LD模块电流根据目标电流和温度进行配置,为防止光器件过冲,主控逻辑单元判断TEC控制模块稳定后再使能LD驱动模块,并且主控逻辑单元实现LD模块驱动电流的缓加电功能;所述驱动控制单元在TEC模块两端和LD模块两端提供超压保护和极限电流限制功能,克服老化过程中TEC模块和LD模块失效的异常情况。
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