[发明专利]一种集成电路板的外观检测机构

摘要

本发明公开了一种集成电路板的外观检测机构，包括检测机架，所述检测机架上设有检测底座，所述检测底座的两侧固定有两个竖直板，竖直板的上端中部铰接有连轴，所述连轴的一端固定有转动轮，两个转动轮的中部之间连接有传动轴，所述传动轴包括分别与两个转动轮连接的第一子轴和第二子轴，所述第一子轴的一端成型有第一内花键孔、另一端成型有第一外花键，所述第二子轴的两端均成型有第二外花键，转动轮的中部成型有第二内花键孔；所述传动轴上方的转动轮侧壁上成型有水平的插接槽，转动轮一侧的竖直板上固定有水平限位板。本发明减轻检测人员的劳动强度，且能提高检测效率。

主权项

1.一种集成电路板的外观检测机构，包括检测机架(10)，其特征在于：所述检测机架(10)上设有检测底座(20)，所述检测底座的两侧固定有两个竖直板(30)，所述竖直板上方的检测机架(10)上设有工业相机(40)，竖直板(30)的上端中部铰接有连轴(50)，所述连轴的一端固定有转动轮(51)，两个竖直板(30)上的转动轮(51)相对设置，与其中一个转动轮(51)固定的连轴(50)上设有连轴驱动件(52)，两个转动轮(51)的中部之间连接有传动轴(54)，所述传动轴包括分别与两个转动轮连接的第一子轴(541)和第二子轴(542)，所述第一子轴(541)的一端成型有第一内花键孔(543)、另一端成型有第一外花键(544)，所述第二子轴(542)的两端均成型有第二外花键(545)，转动轮(51)的中部成型有第二内花键孔(511)，第一子轴(541)的第一外花键(544)插套在其中一个转动轮(51)的第二内花键孔(511)中，第二子轴(542)的一端第二外花键(545)插套在第一子轴(541)的第一内花键孔(543)中、另一端第二外花键(545)插套在另一个转动轮(51)的第二内花键孔(511)中，第一子轴(541)和第二子轴(542)的一端端部距离转动轮(51)的第二内花键孔(511)的端部内壁一定距离；所述传动轴(54)上方的转动轮(51)侧壁上成型有水平的插接槽(512)，转动轮(51)一侧的竖直板(30)上固定有水平限位板(60)，所述水平限位板位于所述插接槽(512)的下方；所述转动轮(51)的插接槽(512)内插接有水平的用于插接集成电路板(1)的槽轨(70)，所述槽轨的截面呈“匚”字形，槽轨(70)的一侧下端面抵靠在所述水平限位板(60)上，当槽轨(70)跟随转动轮(51)转过180度后，槽轨(70)的一侧上端面抵靠在水平限位板(60)上。