[发明专利]硬件抽象层调试方法和装置有效

专利信息
申请号: 201610597474.8 申请日: 2016-07-26
公开(公告)号: CN107656861B 公开(公告)日: 2020-06-02
发明(设计)人: 李星;孟小甫;高翔 申请(专利权)人: 龙芯中科技术有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 杨文娟;刘芳
地址: 100095 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种硬件抽象层调试方法和装置,其中,该方法包括:获取HAL的资源信息,该资源信息包括至少一个结构体变量,每个结构体变量包括至少一个字段,对该资源信息中的每个结构体变量进行分析,确定出每个结构体变量中的至少一个目标字段,该目标字段是在进程生命周期内不会发生变化的不变字段,判断每个目标字段的实际值与该目标字段的初始值是否一致,在目标字段的实际值与初始值不一致时,打印出目标字段对应的日志信息以用于定位该资源信息中的出错位置。本发明的技术方案,不仅获取到HAL信息全面,而且节省了开发人员调试分析Android系统中内核与HAL兼容性问题的时间,HAL的调试效率高。
搜索关键词: 硬件 抽象 调试 方法 装置
【主权项】:
一种硬件抽象层调试方法,其特征在于,包括:获取硬件抽象层HAL的资源信息,所述资源信息包括至少一个结构体变量,每个结构体变量包括至少一个字段;对所述资源信息中的每个结构体变量进行分析,确定出每个结构体变量中的至少一个目标字段,所述目标字段是在进程生命周期内不会发生变化的不变字段;判断每个所述目标字段的实际值与所述目标字段的初始值是否一致;在所述目标字段的实际值与所述目标字段的初始值不一致时,打印出所述目标字段对应的日志信息,所述日志信息用于定位所述资源信息中的出错位置。
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