[发明专利]一种致密储层孔喉全尺度表征及分析方法在审
申请号: | 201610536741.0 | 申请日: | 2016-07-08 |
公开(公告)号: | CN105974092A | 公开(公告)日: | 2016-09-28 |
发明(设计)人: | 肖前华;杨正明;戚志林;向祖平;严文德;王学武 | 申请(专利权)人: | 重庆科技学院 |
主分类号: | G01N33/24 | 分类号: | G01N33/24 |
代理公司: | 重庆创新专利商标代理有限公司 50125 | 代理人: | 宫兆斌 |
地址: | 401331 重*** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | 本发明公开了一种致密储层孔喉全尺度表征及分析方法,包括如下步骤:一、数据优选:(a)准备致密油岩样;(b)采用高压压汞仪Pore Master对岩样进行压汞实验;(c)采用自动等温吸附仪,在温度为77.35K,相对压力0.01‑1MPa之间进行低温氮气实验;(d)根据吸附法孔喉分布频率累积分布频率图,并在累积分布频率图上进行插值;(e)在25nm处将压汞法孔喉分布频率和转换后的吸附法孔喉分布频率连接;二、数据检验。该表征方法步骤简单,通过该方法可以分析不同储层孔喉分布规律,跨越多个数量级对储层不同尺度空间微观结构进行更准确深入的评价。 | ||
搜索关键词: | 一种 致密 储层孔喉全 尺度 表征 分析 方法 | ||
【主权项】:
一种致密储层孔喉全尺度表征及分析方法,包括如下步骤:一、数据优选:(a)准备致密油岩样,通过天平测试岩样质量,通过游标卡尺测试岩样长度以及直径,并计算岩样体积,通过质量和体积计算岩样密度,通过孔渗仪测试岩样孔隙度;(b)采用高压压汞仪Pore Master对岩样进行压汞实验,并通过岩样密度、质量、孔隙度计算不同孔喉区间体积所占总孔隙体积的百分含量,即压汞法孔喉分布频率;(c)采用自动等温吸附仪,在温度为77.35K,相对压力0.01‑1MPa之间进行低温氮气吸附实验,通过岩样密度、质量、孔隙度计算不同孔喉区间体积所占总孔隙体积的百分含量,即吸附法孔喉分布频率;(d)根据吸附法孔喉分布频率得到吸附法孔喉累积分布频率图,并在累积分布频率图上进行插值,插值方法选择两点间线性插值或多项式插值,插值点选择压汞法孔喉累积分布频率图100nm以下的点,将插值后的累积分布频率转换到孔喉分布频率,转换完成后使得吸附法孔喉分布频率转化为修正后的孔喉分布频率;(e)介孔区间采用修正后的孔喉分布频率数据,而宏孔区间采用压汞法孔喉分布频率数据,两种数据在介孔与宏孔的分界点——25nm处进行插值连接,即得到综合孔喉分布频率;二、数据检验:(f)制作平行岩样,并对岩样饱和水,然后依次进行0.14MPa、0.28MPa、1.38MPa和2.76MPa离心力离心,并在每次离心前后进行NMR测试,通过求取离心后的信号量与饱和水状态的信号量之比,可以获得1μm以下、0.5μm以下、0.1μm以下、0.05μm以下的孔隙含量,从而可以绘制NMR‑离心孔隙含量累积分布图;(g)将优选出的综合孔喉分布频率转化为综合孔喉累积分布频率,并与平行岩样NMR‑离心数据绘制在同一个累积分布图中,观察是否有超越NMR‑离心累积分布的点;例如,图5中100nm点处首次与NMR‑离心数据重合,说明优选出的数据在100nm以下的累积含量偏高,同时总的累积含量为102%,大于100%,说明100nm以下孔隙累积含量必然偏高,需要进行修正;(h)对数据进行修正,修正步骤为:(1)对半径2nm以下孔隙含量进行约束,由于2nm以下孔隙大多数为无效孔隙,进行约束时可以将较小的孔隙的含量设置成0,将累积分布控制在合理大小范围内;(2)如果将半径2nm以下含量约束到极限值0时依然偏离理论关系,则检查异常点所在区间,并进行约束;如图5中100nm点依然超越NMR‑离心曲线,则需对50nm‑100nm段进行检验,寻找该区间的异常点,进行适当约束;如果500nm处偏离理论关系,则检查100nm‑500nm区间,以此类推,逐一检验并修正;(i)将修正后的综合孔喉累积分布频率再次转化为综合孔喉分布频率即得到孔喉全尺度分布特征图谱;(j)对全尺度分布特征图谱的分析:将岩样渗透率的贡献图绘制到修正后的综合孔喉分布频率中,如随渗透率的增大,不同岩性致密岩样孔径分布右侧波峰抬高或右移,说明渗透率的贡献受大孔隙影响明显,如渗透率贡献率曲线主峰逐渐偏离孔喉分布曲线主峰,使得渗透能力主要依靠少量大孔隙贡献,部分来自纳米级孔隙,这种情况会使得储层开发难度将会极大,基质流体极难动用。
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