[发明专利]用于测试模/数转换器的方法及其系统在审
| 申请号： | 201610471293.0 | 申请日： | 2016-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN106301368A | 公开（公告）日： | 2017-01-04 |
| 发明（设计）人： | 陈涛;金贤坤 | 申请（专利权）人： | 飞思卡尔半导体公司 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人： | 倪斌 |
| 地址： | 美国得克*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种具有模/数转换器(ADC)的数据处理系统以及一种用于测试该ADC的方法。该数据处理系统还包括数/模转换器(DAC)和测试逻辑。该DAC具有第一电压范围、用于接收测试代码的输入端和输出端。该ADC具有比该第一电压范围更大的第二电压范围、耦合至该DAC的输出端的输入端，以及用于提供遍及该第二电压范围的一系列输出代码的输出端。该测试逻辑被耦合至该ADC并用于使用该DAC控制该ADC的测试。多个系列测试代码被提供给该DAC以用于测试从该ADC输出的第二电压范围的部分电压范围。开始的系列测试代码用于测试该第二电压范围的开始部分电压范围，并且后续的系列测试代码用于测试该第二电压范围的后续部分电压范围。该第二电压范围的后续部分电压范围被测试，直到达到该ADC的第二电压范围的最大电压。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 转换器 方法 及其 系统 | ||
【主权项】：
一种测试具有多个二进制加权电容器的模/数转换器(ADC)的方法，其特征在于，所述方法包括：将数/模转换器(DAC)的输出端耦合至所述多个二进制加权电容器，所述DAC具有比所述ADC的电压范围更小的电压范围；向所述DAC提供一系列测试代码，所述系列测试代码用于测试所述ADC的所述电压范围的一部分电压范围；在所述ADC的采样阶段期间，从所述DAC向所述多个二进制加权电容器输出对应于所述测试代码的测试电压；在ADC转换阶段期间，从所述测试电压确定输出代码；将与待测试的所述ADC的下一部分电压范围对应的所述多个二进制加权电容器的一或多个电容器选择性地耦合至参考电压；并且迭代执行提供、输出、确定和选择性耦合的步骤，直到完成所述ADC的所述电压范围的测试。
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