[发明专利]用三坐标测量两圆柱同轴度的方法在审
申请号: | 201610442683.5 | 申请日: | 2016-06-20 |
公开(公告)号: | CN106091900A | 公开(公告)日: | 2016-11-09 |
发明(设计)人: | 吴国涛 | 申请(专利权)人: | 上海现代先进超精密制造中心有限公司 |
主分类号: | G01B5/252 | 分类号: | G01B5/252 |
代理公司: | 上海顺华专利代理有限责任公司 31203 | 代理人: | 顾雯;张星漪 |
地址: | 200433 上海市杨*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种用三坐标测量两圆柱同轴度的方法,具体步骤包括:首先使用三坐标的测头,分别测量基准圆柱左端直径和右端直径,将基准圆柱左端直径的圆和右端直径的圆使用三坐标组成基准圆锥;然后使用三坐标的测头,分别测量被测圆柱左端直径和右端直径,将基被测柱左端直径的圆和被测圆柱右端直径的圆使用三坐标组成被测圆锥;使用三坐标求被测圆锥和基准圆锥的同轴度,得到的值便是被测圆柱和基准圆柱的同轴度。本发明能解决同轴度测量带来的测量误差难题。 | ||
搜索关键词: | 坐标 测量 圆柱 同轴 方法 | ||
【主权项】:
一种用三坐标测量两圆柱同轴度的方法,其特征在于,具体步骤包括:首先使用三坐标的测头,分别测量基准圆柱左端直径和右端直径,将基准圆柱左端直径的圆和右端直径的圆使用三坐标组成基准圆锥;然后使用三坐标的测头,分别测量被测圆柱左端直径和右端直径,将基被测柱左端直径的圆和被测圆柱右端直径的圆使用三坐标组成被测圆锥;使用三坐标求被测圆锥和基准圆锥的同轴度,得到的值便是被测圆柱和基准圆柱的同轴度。
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