[发明专利]一种连续测量薄膜变形的装置及方法

摘要

本发明涉及一种测量装置及其具体的测量操作方法，具体是一种连续测量薄膜变形的装置及方法。一种连续测量薄膜变形的装置，包括万能材料试验机，所述万能材料试验机包括外接端、检测分析装置和显示屏，检测分析装置和显示屏电连接并由显示屏显示分析后的图像，还包括位移传感器，所述位移传感器固定在万能材料试验机的外接端，位移传感器与万能材料试验机的检测分析装置电连接，并为检测分析装置提供电信号；还包括放置在位移传感器正下方的测量夹具，所述测量夹具包括支撑底座和顶盖，在支撑底座的上方和顶盖的下方固定有相同直径的空心玻璃管。利用该装置的测量方法可以实现连续测量薄膜变形并且测量精度更高。

主权项

1.一种连续测量薄膜形变的装置，包括万能材料试验机，所述万能材料试验机包括外接端、检测分析装置和显示屏，检测分析装置和显示屏电连接并由显示屏显示分析后的图像，其特征在于：还包括位移传感器，所述位移传感器固定在万能材料试验机的外接端，位移传感器与万能材料试验机的检测分析装置电连接，并为检测分析装置提供电信号；还包括放置在位移传感器正下方的测量夹具，所述测量夹具包括支撑底座和顶盖，在支撑底座的上方和顶盖的下方固定有相同直径的空心玻璃管,支撑底座上方和顶盖下方的两个空心玻璃管相接触的位置上分别固定有极性不同的磁铁，所述两个空心玻璃管底端磁铁的底面分别涂覆不同颜色，所述位移传感器具有测量杆，所述测量杆顶端为半球形结构。