[发明专利]一种用于染料激光器的波长修正控制系统

摘要

本发明提供的用于染料激光器的波长修正控制系统，包括染料激光器、样品池、信号探测单元、信号处理单元。染料激光器经β相偏硼酸钡晶体倍频后再输出，经倍频后输出的激光经分束镜分束后通过入射窗进入样品池；信号探测单元中包含窄带滤波片的荧光收集镜头，滤除干扰，并将激光激发的荧光信号聚焦，通过光电倍增管采集该荧光信号，光电二极管监测激光能量信号。信号处理单元中信号采集卡接收光电倍增管和光电二极管采集的信号，并传送至计算机，计算机通过USB控制染料激光器的光栅和β相偏硼酸钡晶体的参数，以调整激光输出波长。利用本发明的波长修正控制系统能够实现染料激光器波长在待测物质激发线位置的精确定位，定位精度高达0.1pm。

主权项

1.一种用于染料激光器的波长修正控制系统，其特征在于，包括：样品池，所述样品池包括设于所述样品池顶部的进气口，设于所述样品池底部的抽真空口，对称设于所述样品池两侧的入射窗和出射窗，垂直设于所述样品池另一侧面的信号采集口，所述抽真空口连接有真空泵，且所述抽真空口处设有压力计；染料激光器，用于发射激光，所述染料激光器的发射端连接有β相偏硼酸钡晶体，所述β相偏硼酸钡晶体与所述入射窗之间设有分束镜，所述分束镜用于将经过所述β相偏硼酸钡晶体的激光进行分束；信号探测单元，所述信号探测单元包括连接于所述信号采集口的荧光收集镜头，与所述荧光收集镜头相连接的光电倍增管，设于所述出射窗出射方向上的光电二极管；所述染料激光器发射的激光经所述β相偏硼酸钡晶体倍频后，经所述分束镜分束，分束后的激光通过所述入射窗进入所述样品池内，所述样品池内的物质经激光激发而发射荧光，所述光电倍增管通过所述信号采集口采集信号，所述光电二极管采集所述出射窗射出的信号；信号处理单元，所述信号处理单元包括信号采集卡、延时发生器和计算机；所述信号采集卡分别与所述光电倍增管和所述光电二极管相连接，用于接收所述光电倍增管和所述光电二极管采集的信号，所述延时发生器分别与所述染料激光器和所述信号采集卡相连接，用于触发所述染料激光器和所述光电二极管；所述计算机连接于所述信号采集卡与所述染料激光器之间，用于处理经过所述信号采集卡的信号。