[发明专利]一种基于磁芯环绕线圈结构的感应热像无损检测装置有效
申请号: | 201610289429.6 | 申请日: | 2016-05-05 |
公开(公告)号: | CN105784763B | 公开(公告)日: | 2018-12-18 |
发明(设计)人: | 高斌;赵健;田贵云;邱发生 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01N25/20 | 分类号: | G01N25/20 |
代理公司: | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人: | 温利平 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于磁芯环绕线圈结构的感应热像无损检测装置,在现有技术的基础上,对产生交变磁场的线圈进行改进,即采用全新的磁芯环绕线圈代替传统的圆形线圈或矩形线圈来产生交变磁场。可检出各种角度的导体试件的缺陷,克服了基于传统线圈的感应热像无损检测装置无法保证所有角度的缺陷都不与涡流流向平行,无法检出部分缺陷的不足。同时,本发明中的磁芯环绕线圈可以更有效地利用激励线圈激发出的磁场在导体试件内感生出强度更大的涡流场,进而产生更大面积的较均匀的涡流场对导体试件进行加热,提高了热图中缺陷区域与非缺陷区域的温度对比度,提高了缺陷检测的范围和各类方向性缺陷检出效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 环绕 线圈 结构 感应 无损 检测 装置 | ||
【主权项】:
1.一种基于磁芯环绕线圈结构的感应热像无损检测装置,包括:功率发生器,用于产生交变激励电流,并通过激励端通入激励线圈;红外热像仪,用于实时记录导体试件表面热信息即热场分布情况,并输出反映热信息即热场分布情况的热视频给上位机;上位机,用于对红外热像仪输出的热视频进行分析挖掘,得到导体试件的缺陷信息;其中,红外热像仪和功率发生器在触发信号控制下同时打开,以便同步记录导体试件表面热信息;其特征在于,还包括:一磁芯环绕线圈,该磁芯环绕线圈包括一个圆柱形磁芯以及一个封闭式螺旋形激励线圈,所述圆柱形磁芯的材质为铁氧体,封闭式螺旋形激励线圈内部通循环冷却水;所述封闭式螺旋形激励线圈套放在磁芯中间部位,二者即圆柱形磁芯和封闭式螺旋形激励线圈中心轴需重合;所述封闭式螺旋形激励线圈与圆柱形磁芯间距介于二倍圆柱形磁芯半径和三倍圆柱形磁芯半径之间。
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