[发明专利]一种用于旋冠盖的阈值图制作和图片检测方法

摘要

本发明公开了一种用于旋冠盖的阈值图制作和图片检测方法，包括阈值图制作方法和图片检测方法，与现有技术相比，本发明根据采集的图片，在考虑变形误差、印刷误差等基础上，自动进行区域分割、自动逐像素计算阈值范围、自动生成阈值限值图。在线检测时，根据阈值限值图计算缺陷区域。该检测过程具备计算简单、计算时间短、全区域检测等特点，具有推广应用的价值。

主权项

一种用于旋冠盖的阈值图制作和图片检测方法，其特征在于：包括阈值图制作方法和图片检测方法，所述阈值图制作方法包括以下步骤：(A)采集图片中的每个像素；(B)将选定像素及相邻像素的每个颜色通道进行顶帽计算，得到当前点每个颜色通道的最大阈值；(C)将选定像素及相邻像素的每个颜色通道进行底帽计算，得到当前点每个颜色通道的最小阈值；(D)根据用户设定的阈值容差、自动对整个盖面进行区域分割、将相邻阈值差小于容差的归类一个区域；(E)将同一个区域的所有像素的最大阈值设定为该区域的各像素最大阈值的最大值加上上限容差；(F)将同一个区域的所有像素的最小阈值设定为该区域的各像素最小阈值的最小值减去下限容差；(G)根据每个像素的上下限阈值，每个颜色通道生成两个阈值图，上限阈值图和下限阈值图。图中每个像素的值为步骤(A)到(F)计算出来的阈值(H)取一批标准图重复步骤(A)到(G)；(I)将所有上下限阈值图合并，规则是每个像素的上限为各标准图当前像素阈值的最大值。每个像素的下限为各标准图当前像素阈值的最小值；所述图片检测方法包括以下步骤：(a)计算通道阈值上限图与通道采样图的最大值，得到最大阈值图；(b)用最大阈值图减去通道阈值上限图，得到上限疑似缺陷图；(c)计算通道阈值下限图与通道采样图的最小值，得到最小阈值图；(d)用通道阈值下限图减去最小阈值图得到下限疑似缺陷图；(e)上下限疑似缺陷图有像素值不是0，则该点为疑似缺陷点；(f)如果相邻疑似缺陷点超过了允许的面积、尺寸或者个数，则确定为缺陷点；(g)将图片中的每个通道重复步骤(a)到步骤(f)。