[发明专利]基于矩阵电容板的触控芯片测试系统及其测试方法

摘要

本发明属于触摸屏技术领域，公开了一种基于矩阵电容板的触控芯片测试系统及其测试方法。该测试系统包括矩阵电容板、配置文件获取模块、测试链路模拟模块以及测试模块。其中，测试模块内置有测试程序，用于将配置文件加载至测试程序，然后在模拟出的自电容链路或互电容链路上运行加载了配置文件的测试程序以对待测触控芯片进行测试。本发明中，当待测触控芯片为互电容式触控芯片时，可使矩阵电容板与待测触控芯片共同模拟出互电容链路，当待测触控芯片为自电容式触控芯片时，矩阵电容板与待测触控芯片共同模拟出自电容链路，在矩阵电容板的基础上同时实现了互电容式触控芯片和自电容式触控芯片的测试，提升了矩阵电容板的测试覆盖率。

主权项

1.一种基于矩阵电容板的触控芯片测试系统，其特征在于，所述触控芯片测试系统包括矩阵电容板、配置文件获取模块、测试链路模拟模块以及测试模块；/n所述矩阵电容板在测试时被控制与待测触控芯片连接；/n所述配置文件获取模块用于获取与待测触控芯片的类型相对应的配置文件；所述配置文件中包含有待测触控芯片的类型信息；/n所述测试链路模拟模块与待测触控芯片连接，用于根据所述待测触控芯片的类型信息控制待测触控芯片与矩阵电容板之间形成相应的有效电路结构类型，从而使矩阵电容板与待测触控芯片共同模拟出测试所需的自电容链路或互电容链路；/n所述测试模块内置有测试程序，用于将所述配置文件加载至所述测试程序，然后在模拟出的自电容链路或互电容链路上运行加载了配置文件的测试程序以对待测触控芯片进行测试；/n所述矩阵电容板包括一PCB板，所述PCB板上设有一电容矩阵；所述电容矩阵的每一行均具有第一信号端子，每一列均具有第二信号端子；在所述电容矩阵中，每一行的所有电容的第一端均连接至该行所对应的第一信号端子，每一列的所有电容的第二端均连接至该列所对应的第二信号端子；其中，所述第一信号端子与第二信号端子中的一个与待测触控芯片的信号输入引脚对应连接，另一个与待测触控芯片的信号输出引脚对应连接；/n所述待测触控芯片包括第一信号发生电路、第二信号发生电路、第一信号接收电路、第二信号接收电路、与待测触控芯片的信号输出引脚一一对应的若干输出开关单元、与待测触控芯片的信号输入引脚一一对应的若干输入开关单元；其中每个输出开关单元均包括第一开关、第二开关、及第三开关，每个输入开关单元均包括第四开关、第五开关、及第六开关；/n其中，所述第一信号发生电路通过每个第一开关连接对应的信号输出引脚，所述第一信号接收电路通过每个第二开关连接对应的信号输出引脚，待测触控芯片的各信号输出引脚还通过对应的所述第三开关接地；所述第二信号发生电路通过每个第四开关连接对应的信号输入引脚，所述第二信号接收电路通过每个第五开关连接对应的信号输入引脚，待测触控芯片的各信号输入引脚还通过对应的所述第六开关接地；当待测触控芯片为互电容式触控芯片时，所述测试链路模拟模块用于控制需要测试的输出开关单元中的第一开关闭合、第二开关断开、及第三开关断开，控制需要测试的输入开关单元中的第四开关断开、第五开关闭合、及第六开关断开；/n当待测触控芯片为自电容式触控芯片时，所述测试链路模拟模块用于在第一测试阶段控制各个输出开关单元中的第一开关闭合、第二开关闭合、及第三开关断开，控制各个输入开关单元中的第四开关断开、第五开关断开、及第六开关闭合或断开；还用于在第二测试阶段控制各个输入开关单元中的第四开关闭合、第五开关闭合、及第六开关断开，控制各个输出开关单元中的第一开关断开、第二开关断开、及第三开关闭合或断开；其中，第三开关、及第六开关的闭合或断开用于决定模拟出的自电容链路的电容值。/n