[发明专利]一种器件速度参数的测试方法及系统在审
| 申请号： | 201610158234.8 | 申请日： | 2016-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN107202949A | 公开（公告）日： | 2017-09-26 |
| 发明（设计）人： | 吕佳 | 申请（专利权）人： | 联芯科技有限公司;大唐半导体设计有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙)31260 | 代理人： | 成丽杰 |
| 地址： | 200233 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及半导体领域，公开了一种器件速度参数的测试方法及系统。本发明中，将至少一预设的用于获取信号频率值的测试电路结构设置在芯片电路中；在测试电路结构的信号输入端输入预设的测试信号；获取测试电路结构信号输出端的信号频率值；根据信号频率值获取芯片器件速度参数。这样，通过在芯片电路中设置用于获取信号频率值的测试电路结构的方式，从而根据所获取的信号频率值来获取芯片器件速度参数，相比于现有技术中的芯片器件速度参数的获取方法而言，能够更加直接的获取芯片器件速度参数，并能够获得准确度较高的芯片器件速度参数。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 器件 速度 参数 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种器件速度参数的测试方法，其特征在于，包含以下步骤：将至少一预设的用于获取信号频率值的测试电路结构设置在芯片电路中；在所述测试电路结构的信号输入端输入预设的测试信号；获取所述测试电路结构信号输出端的信号频率值；根据所述信号频率值获取芯片器件速度参数。
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