[发明专利]用于质量校准的系统和方法有效
| 申请号： | 201610132791.2 | 申请日： | 2016-03-09 |
| 公开（公告）号： | CN106024571B | 公开（公告）日： | 2018-08-24 |
| 发明（设计）人： | S·T·夸姆比;G·B·古肯博格 | 申请（专利权）人： | 萨默费尼根有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/00 | 分类号： | H01J49/00;H01J49/26 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 侯颖媖 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种方法包含从一或多个校准物质产生离子且将所述离子递送到质量分析器，以及测量来自所述一或多个校准物质的所述离子的第一组质量相关物理值。所述方法进一步包含从样本产生离子且将所述离子递送到质量分析器，以及测量第一样本离子物质的第二质量相关物理值。所述第一样本离子物质具有在所述校准离子物质的质荷比范围外的质荷比。另外，所述方法包含基于所述第一组质量相关物理值和第二质量相关物理值计算校准曲线，以及基于所述校准曲线修改至少一个仪表参数。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 质量 校准 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于质量校准的方法，其包括：从一或多个校准物质产生离子且将所述离子递送到质量分析器；测量来自所述一或多个校准物质的所述离子的第一组质量相关物理值；从样本产生离子且将所述离子递送到质量分析器，所述样本包含具有未知质量的离子物质和具有已知质量的第一样本离子物质，所述第一样本离子物质具有在所述校准离子物质的质荷比范围外部的质荷比；测量所述第一样本离子物质的第二质量相关物理值；基于所述多个校准离子物质的所述第一组质量相关物理值和所述第一样本离子物质的第二质量相关物理值计算校准曲线；以及基于所述校准曲线修改至少一个仪表参数。
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