[发明专利]火山岩中活性SiO2含量的测定方法在审
| 申请号： | 201610100459.8 | 申请日： | 2016-02-24 |
| 公开（公告）号： | CN105699406A | 公开（公告）日： | 2016-06-22 |
| 发明（设计）人： | 喻乐华 | 申请（专利权）人： | 喻乐华 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20 |
| 代理公司： | 江西省专利事务所 36100 | 代理人： | 张静 |
| 地址： | 330013 江西省南昌*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种火山岩中活性SiO2含量的测定方法，包括以下步骤：由化学分析测定火山岩中全SiO2含量；用火山岩粉末X光衍射分析（XRD）；在XRD图谱中选取石英（2θ=67°—69°）独立衍射峰的数据分析，计算衍射背景线以上的晶相面积与衍射峰线以下的全部物相面积之百分率即为SiO2晶相百分率；用差减法得到非晶相SiO2比例；利用公式活性SiO2含量=（全SiO2含量）*（非晶态SiO2比例），即得。本发明方法不受粉末颗粒细度等诸多外界因素的影响，只由材料内在要素成分和非晶质含量所决定，更加科学合理、精确、简捷、方便；适用于评判火山岩或其它火山灰质材料如矿渣等用作辅助胶凝材料的质量优劣。 | ||
| 搜索关键词： | 火山岩 活性 sio sub 含量 测定 方法 | ||
【主权项】：
一种火山岩中活性SiO2含量的测定方法，其特征在于：包括以下步骤：1．1由化学分析测定火山岩中全SiO2含量 ；1．2、用火山岩粉末X光衍射分析（XRD）；1．3、在XRD图谱中选取石英（2θ=67°—69°）独立衍射峰的数据分析，计算衍射背景线以上的晶相面积与衍射峰线以下的全部物相面积之百分率即为SiO2晶相百分率；1．4、用差减法得到非晶相SiO2比例 ；1．5、计算活性SiO2含量：利用公式活性SiO2含量 =（全SiO2含量）*（非晶态SiO2比例），即得。
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