[发明专利]过热检测电路及电源装置在审
| 申请号： | 201610075338.2 | 申请日： | 2016-02-03 |
| 公开（公告）号： | CN105841831A | 公开（公告）日： | 2016-08-10 |
| 发明（设计）人： | 原田范行;坂口薰 | 申请（专利权）人： | 精工半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01K7/01 | 分类号： | G01K7/01 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 何欣亭;姜甜 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供电路规模小、低成本且耗电少的过热检测电路。过热检测电路构成在CMOS半导体装置，所述过热检测电路具备：连接在寄生双极晶体管的基极/发射极间的基准电压电路；以及与寄生双极晶体管的发射极连接的电流检测电路，电流检测电路检测到电流流过寄生双极晶体管，输出过热检测信号。 | ||
| 搜索关键词： | 过热 检测 电路 电源 装置 | ||
【主权项】：
一种过热检测电路，构成在CMOS半导体装置，其特征在于，具备：寄生双极晶体管；在所述寄生双极晶体管的基极/发射极间连接的基准电压电路；以及与所述寄生双极晶体管的发射极连接，由阻抗元件和输出端子构成的电流检测电路，所述电流检测电路检测到集电极电流流过所述寄生双极晶体管，输出过热检测信号。
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