[发明专利]一种综合孔径微波辐射计联合校正方法有效
| 申请号： | 201610074778.6 | 申请日： | 2016-02-02 |
| 公开（公告）号： | CN105738851B | 公开（公告）日： | 2018-12-25 |
| 发明（设计）人： | 李青侠;卢海梁;李浩;李一楠;李炎;余锐;吕容川 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学;西安空间无线电技术研究所 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人： | 向彬 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种综合孔径微波辐射计联合校正方法，包括：(1)选择最短基线作为冗余基线，构造所有相关的定标方程；(2)选定少许接收机单元作为内部相干噪声注入单元，通过噪声注入校正方法获得其幅度和相位误差，并构造与这些噪声注入单元相关的定标方程；(3)联立(1)和(2)的所有定标方程，构造一个基于冗余空间和内部相干噪声注入的联合定标方程组；(4)求解(3)构造的联合定标方法组，获得所有接收机的幅度和相位误差、以及天线臂的异面偏移角；(5)根据步骤(4)获得的幅度和相位误差、以及天线臂的异面偏移角，校正测量的可见度函数，采用亮温反演方法获得校正的亮温图像。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 综合 孔径 微波 辐射计 联合 校正 方法 | ||
【主权项】：
1.一种综合孔径微波辐射计联合校正方法，其特征在于，所述方法包括下述步骤：(1)基于冗余空间构造定标方程：选择最短基线作为冗余基线，构造基于空间冗余定标方程；(2)基于内部相干噪声注入构造定标方程：选定少许接收机单元作为内部相干噪声注入单元，通过噪声注入校正方法获得所述内部相干噪声注入单元的幅度和相位误差，并构造与所述内部相干噪声注入单元相关的定标方程；(3)联立(1)和(2)的所有定标方程，构造一个基于空间冗余和内部相干噪声注入单元的联合定标方程组；(4)求解(3)构造的联合定标方法组，获得所有接收机的幅度和相位误差以及天线臂的异面偏移角；(5)根据步骤(4)获得的幅度和相位误差以及天线臂的异面偏移角，校正测量的可见度函数，采用亮温反演方法获得校正的亮温图像。
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