[发明专利]一种正交基准相位的验证方法及其装置有效

专利信息
申请号: 201610039057.1 申请日: 2016-01-20
公开(公告)号: CN105699772B 公开(公告)日: 2019-11-12
发明(设计)人: 金海彬;游立;胡志远;彭诚 申请(专利权)人: 北京东方计量测试研究所
主分类号: G01R25/00 分类号: G01R25/00
代理公司: 北京市振邦律师事务所 11389 代理人: 李朝辉
地址: 100086 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种正交基准相位的验证方法及其装置,具体验证方法为:第一步,标准相位源输出标称90°或270°的正交向量电压U1和U2;第二步,用相位采样测量系统测量上述正交向量电压,采样测量系统的电压通道1测量向量电压U1,采样测量系统的电压通道2测量向量电压U2,相位采样测量系统测得向量电压U1和U2之间的相位差为第三步,互换采样测量系统的电压通道,并改变测量向量电压U1的方向,相位采样测量系统测得U2和‑U1之间的相位差为第四步,正交相位误差计算,设相位采样测量系统的正交相位测量误差为δ,设标准相位源标称正交输出相位误差为并根据上述两个相位差的值构建两个二元一次方程,则可计算出正交相位误差值δ和
搜索关键词: 一种 正交 基准 相位 验证 方法 及其 装置
【主权项】:
1.一种正交基准相位的验证方法,包括标准相位源和相位采样测量系统,其特征在于:该相位采样测量系统包括两个双通道采样卡、控制器和时钟,其中两个双通道采样卡构成相位采样测量系统两个电压通道,具体验证方法为:第一步,标准相位源输出标称90°的两个呈正交的向量电压U1和U2;第二步,用相位采样测量系统测量上述两个呈正交的向量电压,相位采样测量系统的电压通道1测量向量电压U1,相位采样测量系统的电压通道2测量向量电压U2,相位采样测量系统测得向量电压U1和U2之间的相位差为第三步,互换相位采样测量系统的电压通道,并改变测量向量电压U1的方向,用相位采样测量系统再次测得标准相位源输出的上述两个呈正交的向量电压,即相位采样测量系统的电压通道1测量向量电压U2,相位采样测量系统的电压通道2测量向量电压‑U1,相位采样测量系统测得U2和‑U1之间的相位差为第四步,正交相位误差计算,设相位采样测量系统的90°正交相位测量误差为δ1,设标准相位源标称90°正交输出相位误差为为相位测量系统测量被测向量电压U1和U2之间的标称90°相位差的真值,而标称相位值减去为标准相位源输出标称90°相位差的真值,它们之间是相等的,即同一个相位量,则有同理有式中:——相位采样测量系统测得向量电压U1和U2之间的相位差;——相位采样测量系统测得向量电压U2和‑U1之间的相位差;——标准相位源标称90°正交输出相位误差;δ1—相位采样测量系统的90°正交相位测量误差;由式(1)和式(2),可得:
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