[发明专利]一种缺陷关联系数的度量方法

摘要

本发明公开了一种缺陷关联系数的度量方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一：从缺陷管理系统中抽象出来需要计算关联度的缺陷信息建立抽象的缺陷关联模型；步骤二：计算缺陷的数据相似度；步骤三：计算缺陷间的耦合度；步骤四：根据缺陷的数据相似度、缺陷间的耦合度计算缺陷关联系数；步骤五：根据缺陷传播特性更新缺陷关联系数矩阵。本发明计算出了两个直接关联缺陷间的缺陷关联系数，准确度高；设计了一种基于缺陷传递的缺陷关联系数的简单路径调整算法，实现对缺陷关联系数矩阵的动态更新。

主权项

1.一种缺陷关联系数的度量方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一：从缺陷管理系统中抽象出来需要计算关联度的缺陷信息建立抽象的缺陷关联模型；所述缺陷关联模型包括与缺陷管理系统对应的ODC属性、缺陷所在组件属性以及缺陷之间的调用关系；步骤二：计算缺陷的数据相似度；其包括如下步骤：步骤2a：提取缺陷的基本属性；步骤2b：建立缺陷的特征维度；步骤2c：实现缺陷数据相似性的计算，并基于该相似值来建立缺陷关联；其包括：步骤2c1：将缺陷特征集数据进行量化处理；量化方法如下：其中，x为缺陷特征向量X中某个特征的类标识，y缺陷特征向量Y中某个特征的类标识；步骤2c2：计算缺陷间数据相似度；缺陷间数据相似度的计算方法如下：其中，dsim(X,Y)表示两个缺陷向量之间缺陷特征不相同的个数，dsim表示两个缺陷间的数据相似度；步骤2c3：建立缺陷的数据相似度关联，当发现某个缺陷时，将与该缺陷关联的缺陷按照缺陷数据相似度由高到低逐个列出，由测试人员进一步测试并排除对应的缺陷；步骤三：计算缺陷间的耦合度；包括：步骤3a：利用面向对象的继承性将缺陷间耦合度的度量转换为组件之间耦合度的度量；步骤3b：通过量化组件之间的类之间的需求和提供的程度，来计算组件之间耦合度；量化方法如下：其中，c向外提供的方法集为MP(c)，c需求外界的方法集为MR(c)，P(a,b)表示组件b需要接口交互的组件a提供方法集合，对于一个组件c∈C，则有步骤四：根据缺陷的数据相似度、缺陷间的耦合度计算缺陷关联系数；步骤五：根据缺陷传播特性更新缺陷关联系数矩阵。