[发明专利]一种缺陷关联系数的度量方法

说明书

本发明公开了一种缺陷关联系数的度量方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一：从缺陷管理系统中抽象出来需要计算关联度的缺陷信息建立抽象的缺陷关联模型；步骤二：计算缺陷的数据相似度；步骤三：计算缺陷间的耦合度；步骤四：根据缺陷的数据相似度、缺陷间的耦合度计算缺陷关联系数；步骤五：根据缺陷传播特性更新缺陷关联系数矩阵。本发明计算出了两个直接关联缺陷间的缺陷关联系数，准确度高；设计了一种基于缺陷传递的缺陷关联系数的简单路径调整算法，实现对缺陷关联系数矩阵的动态更新。

技术领域

本发明涉及一种软件工程中系数度量方法，具体涉及一种缺陷关联系数的度量方法。本发明属于软件工程中软件测试技术领域。

背景技术

计算机软件技术的发展不断促进着计算机应用领域的深入发展，尤其是一些关键应用系统的开发和使用，软件已经逐步成为影响国计民生的重要因素，而软件质量已经成为软件产品最重要的属性之一。随着应用软件规模不断扩大，复杂性也相应增强，进行软件测试、评估软件可靠建立开发人员对软件的信心，已经成为软件开发过程中的主要目标。而软件缺陷(Defect)普遍存在并具有极大危害性，会造成重大的经济损失，危及人身安全。在实际测试过程中，很多软件缺陷并不是相互独立的，它们存在着某种关联关系，即失效关联(Failure Correlation)。从缺陷自身方面来分析，造成这种关联关系存在是因为它们之间存在控制流和数据流所综合导致的。软件关联缺陷是一种普遍存在的现象，“传统可靠性理论失效”的原因之一就是没有考虑到这种关联关系，其存在直接影响其它缺陷检测的效率，缺陷的关联关系是造成软件失效的根源之一。

失效关联普遍存在而且直接影响其它缺陷检测效率，软件可靠性评估失真，但目前仅有少数出版的论文中考虑到了失效关联。工程领域内关联缺陷的应用比较稀少，目前只有上海微创软件有限公司的BMS XP中提供了关联缺陷管理功能，定义了5种关联(包括软件缺陷的依赖关联、缺陷点修复后重新出现缺陷的重复关联、缺陷相关关联、重复出现导致的关联以及缺陷相关的附件)来刻画缺陷之间和缺陷与其相关的文件间的关联。BMS XP整个管理以“BUG”为中心，将所有未完成的任务均作为软件缺陷来进行开发修复，并将与此缺陷所有的相关信息作为关联缺陷来进行管理。

关联缺陷的表现形式多种多样，可以是基于业务逻辑的关联缺陷，也可以是分布在不同系统模块间具有共性的关联缺陷，此外程序员固有的编程风格也会导致产生的缺陷具有相似性。研究表明，覆盖相同或相似测试需求的测试用例往往会检测出相同或相似的软件缺陷。以上文献都是从关联缺陷对软件可靠性所带来的负面影响进行研究，其目的是为了消除关联缺陷，从而减少由此发生的软件失效。软件缺陷数据的关联规则挖掘、统计分析等对提高软件质量起到了一定的帮助作用。分析缺陷关联系数的目的就是为了找出某个缺陷被触发时，其他缺陷被触发的可能性，作为缺陷管理和剔除的依据。利用缺陷关联记载各缺陷之间的关联关系，可以通过关联关系快速查找和排除相关缺陷，提高缺陷排除效率和质量。

总的来说，人们已经认识到了软件失效之间存在关联关系，但对这一现象还缺乏深入的研究，没有从软件失效的根源，也就是软件缺陷的角度来分析关联的原因。研究测试模型基本上是假设关联系数矩阵已知，缺陷间关联则系数值为1，否则值为0。但是在实际的测试环境中，不同软件的缺陷关联特性是不同的，对于缺陷排除的准确性和效率都有不同的影响，因此需要更准确的估计关联缺陷系数方法。

发明内容

为解决现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种缺陷关联系数的度量方法，以及解决现有技术缺陷关联系数的度量方法。

为了实现上述目标，本发明采用如下的技术方案：

一种缺陷关联系数的度量方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤一：从缺陷管理系统中抽象出来需要计算关联度的缺陷信息建立抽象的缺陷关联模型；

步骤二：计算缺陷的数据相似度；

步骤三：计算缺陷间的耦合度；