[发明专利]用于处理正电子发射断层摄影数据的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201580076011.0 申请日: 2015-12-10
公开(公告)号: CN107250844B 公开(公告)日: 2020-06-09
发明(设计)人: 格雷·道格拉斯·史密斯;丹尼尔·瓦茨 申请(专利权)人: 爱丁堡大学董事会
主分类号: G01T1/29 分类号: G01T1/29
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 倪斌
地址: 英国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种正电子发射断层摄影(PET)数据处理方法包括:从PET检测器获得PET数据,其中PET检测器包括闪烁体元件阵列,并且其中PET数据表示受试者的至少一部分的PET测量。该方法包括:在PET数据中识别多个配对事件,其中每个配对事件包括PET检测器的第一区域中的第一光子事件和PET检测器的第二区域中的第二光子事件。第一光子事件包括由于在第一散射方位角处第一光子的散射导致的在阵列的第一闪烁体元件中的能量沉积以及由所散射的第一光子导致的在阵列的第二闪烁体元件中的相关联的能量沉积。第二光子事件包括由于在第二散射方位角处第二光子的散射导致的在阵列的第三闪烁体元件中的能量沉积以及由所散射的第二光子导致的在阵列的第四闪烁体元件中的相关联的能量沉积。该方法还包括:根据配对事件的第一和第二散射方位角来处理PET数据。
搜索关键词: 用于 处理 正电子 发射 断层 摄影 数据 方法 装置
【主权项】:
一种正电子发射断层摄影(PET)检测方法,包括:从PET检测器获得PET数据,其中所述PET检测器包括闪烁体元件的阵列,并且其中所述PET数据表示受试者的至少一部分的PET测量;在所述PET数据中识别多个配对事件,其中每个配对事件包括所述PET检测器的第一区域中的第一光子事件和所述PET检测器的第二区域中的第二光子事件,其中所述第一光子事件包括由于在第一散射方位角处第一光子的散射导致的在所述阵列的第一闪烁体元件中的能量沉积以及由所散射的所述第一光子导致的在所述阵列的第二闪烁体元件中的相关联的能量沉积,以及其中所述第二光子事件包括由于在第二散射方位角处第二光子的散射导致的在所述阵列的第三闪烁体元件中的能量沉积以及由所散射的所述第二光子导致的在所述阵列的第四闪烁体元件中的相关联的能量沉积;以及根据配对事件的散射方位角来处理所述PET数据。
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