[发明专利]一种校验码穿孔和解穿孔方法及装置有效
| 申请号： | 201510729068.8 | 申请日： | 2015-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN106656409B | 公开（公告）日： | 2020-02-14 |
| 发明（设计）人： | 陈庆春;王慧;张勇;林伟;朱俊 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | H04L1/00 | 分类号： | H04L1/00 |
| 代理公司： | 11274 北京中博世达专利商标代理有限公司 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 518129 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种校验码穿孔和解穿孔方法及装置，能够有效提高穿孔后的LDPC码性能。包括：发送设备获取低密度奇偶校验LDPC码，所述LDPC码包括校验比特位；获取穿孔校验比特个数；根据所述穿孔校验比特个数和置信度列表对所述LDPC码的校验比特进行穿孔，得到穿孔后的LDPC码，置信度列表包括X个校验比特位，每个校验比特位按照所述校验比特位的置信度特征从小到大排列，预先存储所述置信度列表。用于对LDPC码的校验比特进行穿孔，提高穿孔后的LDPC码性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 校验码 穿孔 和解 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种校验码穿孔方法，其特征在于，包括：/n发送设备获取低密度奇偶校验LDPC码，所述LDPC码包括校验比特位的校验比特；/n所述发送设备获取穿孔校验比特个数；/n所述发送设备根据所述穿孔校验比特个数和置信度列表对所述LDPC码的校验比特进行穿孔，得到穿孔后的LDPC码；/n所述发送设备具体根据穿孔校验比特个数，从所述置信度列表中第一个校验比特位开始选择需要穿孔的校验比特位，所述置信度列表包括X个校验比特位，每个校验比特位按照所述校验比特位的置信度特征从小到大排列，所述第一个校验比特位为所述置信度列表中置信度特征最小的校验比特位；所述发送设备预先存储所述置信度列表；所述置信度列表为置信度列表生成装置对固定信源信息进行LDPC编码、调制、初始化和迭代译码处理后根据置信度特征生成的。/n
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