[发明专利]二元光掩模坯料、其制备、和二元光掩模的制备有效

专利信息
申请号: 201510415157.5 申请日: 2015-07-15
公开(公告)号: CN105301890B 公开(公告)日: 2018-11-13
发明(设计)人: 稻月判臣;高坂卓郎;西川和宏 申请(专利权)人: 信越化学工业株式会社
主分类号: G03F1/46 分类号: G03F1/46;G03F1/38;G03F1/68
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 杜丽利
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 二元光掩模坯料在透明衬底上具有遮光膜,所述遮光膜主要由过渡金属M和硅Si,或M、Si和N组成,并且具有3.0以上的光密度。所述遮光膜包括含M、Si和N的层,从而满足式B≤0.68×A+0.23,其中A是原子比M/Si且B是原子比N/Si,并且所述遮光膜具有47nm以下的厚度。所述二元光掩模坯料具有能够完全遮蔽曝光的光的薄遮光膜。
搜索关键词: 二元 光掩模 坯料 制备
【主权项】:
1.二元光掩模坯料,其包括透明衬底和在所述透明衬底上的遮光膜,所述遮光膜主要由过渡金属M、硅Si和1‑30原子%的氮N组成,由一个层组成,并且具有3.0以上的光密度,其中所述遮光膜包括满足式(3)的过渡金属‑硅‑氮组成的层,并具有41nm以下的厚度:B≤2.12×A‑0.70   (3)其中A为M比Si的原子比和B为N比Si的原子比。
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