[发明专利]二元光掩模坯料、其制备、和二元光掩模的制备有效
申请号: | 201510415157.5 | 申请日: | 2015-07-15 |
公开(公告)号: | CN105301890B | 公开(公告)日: | 2018-11-13 |
发明(设计)人: | 稻月判臣;高坂卓郎;西川和宏 | 申请(专利权)人: | 信越化学工业株式会社 |
主分类号: | G03F1/46 | 分类号: | G03F1/46;G03F1/38;G03F1/68 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 杜丽利 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 二元光掩模坯料在透明衬底上具有遮光膜,所述遮光膜主要由过渡金属M和硅Si,或M、Si和N组成,并且具有3.0以上的光密度。所述遮光膜包括含M、Si和N的层,从而满足式B≤0.68×A+0.23,其中A是原子比M/Si且B是原子比N/Si,并且所述遮光膜具有47nm以下的厚度。所述二元光掩模坯料具有能够完全遮蔽曝光的光的薄遮光膜。 | ||
搜索关键词: | 二元 光掩模 坯料 制备 | ||
【主权项】:
1.二元光掩模坯料,其包括透明衬底和在所述透明衬底上的遮光膜,所述遮光膜主要由过渡金属M、硅Si和1‑30原子%的氮N组成,由一个层组成,并且具有3.0以上的光密度,其中所述遮光膜包括满足式(3)的过渡金属‑硅‑氮组成的层,并具有41nm以下的厚度:B≤2.12×A‑0.70 (3)其中A为M比Si的原子比和B为N比Si的原子比。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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