[发明专利]晶片释放有效
申请号: | 201510247246.3 | 申请日: | 2015-05-15 |
公开(公告)号: | CN105097636B | 公开(公告)日: | 2018-05-22 |
发明(设计)人: | M.布赫尔;C.迈尔;M.马勒;P.施魏策;T.施泰纳 | 申请(专利权)人: | 英飞凌科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 王岳;胡莉莉 |
地址: | 德国瑙伊比*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及晶片释放。本发明的实施例提供了一种用于操作包括第一和第二主表面的晶片的卡盘系统。所述卡盘系统包括:被配置为在面向所述卡盘的所述第二主表面处夹持所述晶片的卡盘和释放装置。所述卡盘系统还包括:被配置为将所述释放装置从所述卡盘抬离的致动器。所述释放装置被配置为使得所述释放装置当被抬升时在所述晶片的所述第二主表面的边缘部分处与所述晶片机械地啮合,由此从所述卡盘释放所述晶片。 | ||
搜索关键词: | 晶片 释放 | ||
【主权项】:
1.一种用于操作晶片的卡盘系统,所述晶片包括第一和第二主表面,所述卡盘系统包括:卡盘,其被配置为在面向所述卡盘的所述第二主表面处夹持所述晶片;释放装置;致动器,其被配置为将所述释放装置从所述卡盘抬离;其中,所述释放装置被配置为使得所述释放装置当被抬升时在所述晶片的所述第二主表面的边缘部分处与所述晶片机械地啮合,由此从所述卡盘释放所述晶片;边缘保护装置,其被配置为保护所述第一主表面的边缘部分免受所述卡盘的环境,并且被配置为在第一状态与第二状态之间移动,在所述第一状态处,所述边缘保护装置覆盖所述晶片的所述第一主表面的边缘部分,在所述第二状态处,所述边缘保护装置被从所述第一主表面的所述边缘部分抬离;以及抬升构件,其用于承载所述边缘保护装置,所述抬升构件包括锁闩,其中,所述致动器被配置为抬升所述抬升构件以便抬升所述边缘保护装置并将所述边缘保护装置从所述第一状态移动到所述第二状态,并且继续抬升所述抬升构件从而使得所述锁闩与所述释放装置啮合。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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