[发明专利]一种异形材料切割图像校正方法及系统有效
申请号: | 201510061322.1 | 申请日: | 2015-02-05 |
公开(公告)号: | CN105989588B | 公开(公告)日: | 2021-02-09 |
发明(设计)人: | 孙威 | 申请(专利权)人: | 上海隶首信息技术有限公司 |
主分类号: | G06T7/11 | 分类号: | G06T7/11;G06T5/00 |
代理公司: | 上海愉腾专利代理事务所(普通合伙) 31306 | 代理人: | 唐海波 |
地址: | 200092 上海市虹口区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种异形材料切割图像校正方法及系统,所述异形材料切割图像校正方法包括如下步骤:在打样纸上设置校正定位线条框架图,标定在线条交叉处定位块中心世界坐标;对校正定位线条框架图进行图像采样,获取定位块中心点在图像中的像素坐标;将图像映射到切割区域打样纸定位线条框架图上;将图像中的定位块中心点像素坐标与切割区域定位块框图中定位块中心世界坐标进行比对获得定位块中心点像素坐标相对于定位块框图中定位块中心世界坐标的偏移量并根据偏移量进行校正,采用定位块映射变换形式进行校正,变换具有整体性,变换方法具有更好的误差全局一致性,对图像采集微小变化的容错性更强,从而在生产过程中可以保持更好的误差水平。 | ||
搜索关键词: | 一种 异形 材料 切割 图像 校正 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种异形材料切割图像校正方法,其特征在于,所述异形材料切割图像校正方法包括如下步骤:在打样纸上设置校正定位线条框架图,标定在线条交叉处定位块中心世界坐标;对校正定位线条框架框图进行图像采样,获取定位方块中心点在图像中的像素坐标;将图像映射到切割区域打样纸定位线条框图上;将图像中的定位方块中心点像素坐标与切割区域定位块框图中定位块中心世界坐标进行比对获得定位方块中心点像素坐标相对于定位块框图中定位块中心世界坐标的偏移量并根据偏移量进行校正。
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