[发明专利]一种用于SRAM型FPGA的快速可靠性评估方法有效
| 申请号： | 201510012002.7 | 申请日： | 2015-01-08 |
| 公开（公告）号： | CN104598352B | 公开（公告）日： | 2017-01-11 |
| 发明（设计）人： | 朱启;郭宝龙;高翔;闫允一;赖晓玲;吴进福 | 申请（专利权）人： | 西安空间无线电技术研究所;西安电子科技大学 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 西安智萃知识产权代理有限公司61221 | 代理人： | 张超 |
| 地址： | 710100 陕西*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明具体提供了一种用于SRAM型FPGA的快速可靠性评估方法，包括步骤：1)将待处理的VHD源程序按照VHDL硬件语言的设计规则所确定的模块划分准则划分成L个模块；2)结合硬件设计工具ISE，对该L个模块依次进行综合、映射、布局布线及生成XDL文件操作；3)用概率分析法，粗算得到各模块的软错误率并将其添加到粗算集合C1；4)对C1采用最大类间方差算法OSTU选取阈值δ；将软错误率大于δ的模块添加到细算集合C2中；5)对细算集合C2中各模块分别采用蒙特卡洛法进行软错误率SER的精确计算，并将结果从大到小保存于防护集合S中。本发明在保证计算精度的同时，能够尽可能的减少在SRAM型FPGA的可靠性评估过程中的计算时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 sram fpga 快速 可靠性 评估 方法 | ||
【主权项】：
一种适用于SRAM型FPGA的快速可靠性评估方法，其特征在于：包括如下步骤：(1)根据VHDL硬件语言的设计规则，确定模块划分准则，并将待处理的VHD源程序按照模块划分准则划分成L个模块；(2)结合硬件设计工具ISE，对划分后的L个模块依次进行综合、映射、布局布线以及生成XDL文件操作；(3)利用概率分析法对L个模块的XDL文件进行分析，粗算得到各模块的软错误率SER并将其添加到粗算集合C1，即C1＝{SER1,SER2,…,SERL}，其中，SERi表示粗算得到的第i个模块的软错误率；(4)对粗算集合C1采用最大类间方差算法OSTU选取阈值δ；若第i个模块的软错误率大于阈值δ，即SERi≥δ，1≤i≤L，则认为该模块需进行软错误率SER的精确计算，将其添加到细算集合C2中；(5)对细算集合C2中各模块分别采用蒙特卡洛法进行软错误率SER的精确计算，并将计算结果按照从大到小保存于防护集合S中；防护集合S用于指导可靠性优化。
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