[发明专利]测量切割宝石的参数在审
申请号: | 201480051092.4 | 申请日: | 2014-07-17 |
公开(公告)号: | CN105593668A | 公开(公告)日: | 2016-05-18 |
发明(设计)人: | 尼古拉斯·马修·戴维斯;塞欧翰·D伽马;皮特·斯坦利·罗斯;麦克斯韦·拉尔夫·威利斯 | 申请(专利权)人: | 戴比尔斯英国有限公司 |
主分类号: | G01N21/87 | 分类号: | G01N21/87 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 王慧忠 |
地址: | 英国*** | 国省代码: | 英国;GB |
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摘要: | 一种设备和对应的方法,用于在切割宝石定位在单个测量位置处时测量所述切割宝石的多个参数。设备包括多个光源,所述多个光源中的每个都被构造成用于发射处于多个发射波长或波长范围中不同的一个发射波长或波长范围的光,使得发出的光至少照射测量位置的部分。设备进一步地包括传感器组件,所述传感器组件被构造成用于感测处于多个感测波长或波长范围的光,以用于测量多个参数。由于定位在测量位置处的切割宝石的照射,来自测量位置的被感测的光在传感器组件处被接收。 | ||
搜索关键词: | 测量 切割 宝石 参数 | ||
【主权项】:
一种用于在切割宝石定位在单个测量位置处时测量所述切割宝石的多个参数的设备,所述设备包括:多个光源,所述多个光源中的每个都被构造成发射处于多个发射波长或波长范围中不同的一个发射波长或波长范围的光,使得发出的光照射测量位置的至少一部分;和传感器组件,所述传感器组件被构造成感测处于多个感测波长或波长范围的光,以用于测量所述多个参数,由于对定位在测量位置处的切割宝石的照射,来自测量位置的被感测的光在传感器组件处被接收。
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